L’Éditeur de pattern numérique est un outil interactif pour importer, modifier ou créer des pattern numériques de test. Le logiciel intègre des fiches d’édition pour cartes de broches périphérique, spécifications et modèles destinées à développer ou modifier des vecteurs et modèles de test numériques importés.
The Digital Pattern Editor includes tools like Schmoo plots to provide a deeper understanding of device-under-test (DUT) performance across variation. The editor also offers debugging tools such as overlaying pattern failures on a pattern or using digital scope for an analog view of the pin data.
Le Module TestStand Semiconductor est associé au logiciel d’Éditeur de pattern numérique et au driver de pattern numérique de NI, avec un support natif de l’état des broches et la programmation de systèmes de test de semi-conducteurs (STS) basée sur le matériel sous test (DUT).
Acquérez une compréhension plus approfondie des architectures PXI et de ses applications en situations réelles.
Découvrez comment pour migrer des systèmes PXI existants afin de tirer parti des fonctionnalités des instruments de patterns numériques PXI pour équipements de test numériques.
Découvrez comment le STS offre de l’ouverture et de la souplesse des plates-formes PXI aux environnements de production de semi-conducteurs.
Ressources pour les applications
Principes fondamentaux du montage d’un système de test
La définition d’une stratégie de test et la planification des investissements dans les systèmes sont essentielles pour réduire les coûts, optimiser le cycle de vie des tests et des investissements et maximiser l’efficacité. Découvrez les stratégies de test, les meilleures pratiques et les compromis liés à la conception de vos systèmes de test.
Trouvez les fichiers de téléchargement et les drivers d’instruments supportés pour chaque produit.
Parcourez un vaste éventail de ressources d’aide, dont des exemples et des informations de dépannage.