Qualification de base avec IOL et cycles de mise sous tension
Les systèmes de test IOL et de cycles de mise sous tension vous aident à générer des conditions de contrainte spécifiques au sein de votre semi-conducteur de puissance dans des conditions accélérées. Ils peuvent soutenir les tests avec un débit élevé, une surveillance transparente et de faibles coûts. En plus de tester des semi-conducteurs de puissance à base de silicium, les systèmes sont également adaptés aux semi-conducteurs de puissance SiC et GaN.
Ce que vous découvrirez dans la brochure :
- Méthodes d’amélioration de la qualité des mesures et d’obtention d’un débit élevé lors des tests
- Stratégies de réduction des coûts de test tout en préservant la qualité
- Informations détaillées sur la surveillance transparente et la détermination précise des paramètres pour chaque DUT
- Capacités pour les technologies à large bande interdite, notamment les semi-conducteurs de puissance SiC et GaN
- Avantages d’un processus de test entièrement automatisé avec une caractérisation complète
Explorez les systèmes de test IOL et de cycles de mise sous tension de pointe
Améliorez l’efficacité des tests, augmentez le débit et réduisez les coûts grâce à des systèmes IOL et de cycles de mise sous tension avancés dotés d’une surveillance transparente et de capacités spécialisées pour les semi-conducteurs SiC et GaN.
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