Prueba de fiabilidad de semiconductores de potencia de amplia banda prohibida
Se necesitan nuevos métodos de pruebas adaptados a aplicaciones específicas para semiconductores de potencia de amplia banda prohibida elaborados con carburo de silicio (SiC) y nitruro de galio (GaN), ya que las pruebas tradicionales no identifican ciertos efectos de falla novedosos. Debido a que tienen una influencia en la aplicación real, esta brecha de calificación se cierra con la polarización inversa dinámica (H3TRB) de alta humedad y alta temperatura o la polarización inversa dinámica (DRRB) de acuerdo con la definición de AQG 324.
Sistemas de pruebas de semiconductores de potencia NI SET Dynamic H3TRB y DRB
En un entorno con temperatura y humedad constantes, el DUT está expuesto a estímulos de drenaje dinámico con picos de alto voltaje con un rápido incremento de voltaje. Los cambios de voltaje conducen a cambios rápidos del campo magnético, que tienen un impacto en la corrosión. El procedimiento acelera el deterioro del DUT y posiblemente también de los materiales de aislamiento y es el más cercano a las condiciones operativas del mundo real del DUT.
Esta prueba es un prerrequisito para hacer declaraciones sólidas sobre la vida útil de los componentes o módulos discretos de SiC y GaN. Parámetro clave del sistema de pruebas H3TRB/AC-HTC/DRB dinámicos:
- Aloja hasta 240 canales DUT por sistema, con Vds y voltaje de drenaje máximo de hasta 1500 V
- Permite funciones de un solo DUT que incluyen medidas de corriente de fuga, protección contra sobrecorriente y control de voltaje
- Soporta los modos de prueba DUT-activo y DUT-pasivo, junto con un procedimiento de prueba completamente automatizado
- Ofrece frecuencia de salida configurable de 0 Hz a 500 kHz y ajustes del ciclo de trabajo de 25% a 75% en incrementos de cinco%.
- Funciona en condiciones ambientales de hasta 85 °C y 85% de humedad relativa, con pruebas opcionales como AC-HTC
Ventajas de la solución
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Las condiciones de prueba mejoradas incorporan ciclos adicionales de temperatura y humedad en la evaluación de estrés dinámico
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La flexibilidad para cubrir rápidamente los cambiantes requisitos
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El cumplimiento de fiabilidad única cumple específicamente con los requisitos de fiabilidad de la industria solar, que no están cubiertos por otras pruebas
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La variante de prueba AC-HTC opcional está diseñada para escenarios de aplicaciones especiales
Montaña rusa de semiconductores de potencia: DRB (polarización inversa dinámica)
Desafíos de las pruebas de fiabilidad de amplia banda prohibida
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