Prueba de vida útil de semiconductores de potencia
La vida útil de los semiconductores de potencia está garantizada al cumplir con estándares de prueba como AQG 324 y AECQ-101. Para calificar su DUT de acuerdo con estos requisitos, los ingenieros realizan pruebas de vida operativa intermitente (IOL) y ciclos de potencia donde los DUTs se encienden y apagan continuamente para someterlos a tensión térmica en las uniones cercanas al chip. Los sistemas de pruebas para estas aplicaciones deben cumplir con los siguientes requisitos:
- Cumplir con estándares de pruebas como AQG 324 y AECQ-101
- Alcanzar alto rendimiento, alta eficiencia y alta calidad de medidas
- Las pruebas son relevantes para semiconductores de potencia basados en silicio, SiC y GaN
Sistemas de pruebas de ciclo de potencia y LIO
Los sistemas de NI de pruebas de ciclo de potencia y LIO ayudan a los ingenieros a realizar estas pruebas de manera eficiente con alta densidad de canales y alta flexibilidad en términos de dimensiones del paquete de DUT, monitoreo continuo y bajos costos.
Vida operativa intermitente (IOL)
- Pruebas discretas con cargas de hasta 150 A
- Hasta 80 canales por sistema, 8 canales por cajón
- Parámetro de monitoreo: Tc, Iload, Vload, VReverse (VF), Rth, Tvj (Tjmax – Tjmin)
- El sistema de pruebas cumple con MIL-STD-750D
Ciclador de potencia
- Hasta 12 canales de medidas en dos rutas de corriente; controlador de compuerta desde -18 hasta +20 V
- Corriente de carga de hasta 1000 A, 30 V en la salida de la PSU
- Hasta seis circuitos de enfriamiento independientes, controlados automáticamente por flujo y monitoreo de temperatura
- Parámetro de monitoreo: Iload, Vf, Vgs, Tvj, Tc/s, Rth, Tcool, Qcool, voltaje de trayectorias de voltaje
Ventajas de la solución
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Monitoreo continuo y determinación precisa de todos los parámetros de cada DUT
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Capturar cada pulso de estrés con capacidades completas de registro en un proceso totalmente automatizado y completo con una extensa caracterización
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Pruebas de acuerdo con las normas de prueba AQG 324 y AECQ-101
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Plataforma de pruebas abierta, adecuada para probar semiconductores de potencia de silicio, SiC y GaN
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Múltiples cajones compatibles con carcasas estándares, junto con adaptaciones personalizadas para diversos sustratos
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NI ofrece una variedad de opciones de integración de soluciones personalizadas para los requisitos específicos de su aplicación. Puede utilizar sus propios equipos internos de integración para el control total del sistema o aprovechar la experiencia de NI y nuestra red NI Partner Network a nivel mundial para obtener una solución lista para usar.
La red NI Partner Network es una comunidad global de expertos en la materia, aplicaciones y desarrollo de pruebas en general que trabajan en estrecha colaboración con NI para satisfacer las necesidades de la comunidad de ingenieros. Los socios de NI son proveedores confiables de soluciones, integradores de sistemas, consultores, desarrolladores de productos y expertos en servicios y canales de ventas capacitados en una amplia gama de industrias y áreas de aplicación.
NI colabora con clientes durante el ciclo de vida de una aplicación, proporcionando capacitación, soporte técnico, servicios de consultoría e integración y programas de mantenimiento. Los equipos de trabajo pueden descubrir nuevas habilidades, participando en grupos de usuarios regionales y específicos y desarrollar habilidades con cursos en línea y presenciales.
Folleto de la solución de sistemas de pruebas de ciclo de potencia y LIO
Aprenda sobre el monitoreo continuo del DUT, la determinación precisa de parámetros y las capacidades integrales de grabación. Descargue el folleto de la solución para explorar esta plataforma abierta para diversos semiconductores.
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