Calificación básica con IOL y ciclos de potencia
Los sistemas de pruebas de IOL y ciclos de potencia lo ayudan a generar condiciones de estrés específicas en su semiconductor de potencia en condiciones aceleradas. Pueden ayudar de manera eficiente con alto rendimiento, monitoreo continuo y bajos costos. Además de probar semiconductores de potencia basados en silicio, los sistemas también están equipados para semiconductores de potencia SiC y GaN.
Lo que aprenderá en el folleto:
- Métodos para mejorar la calidad de las medidas y lograr un alto rendimiento en las pruebas
- Estrategias para reducir los costos de las pruebas y mantener la calidad
- Información detallada sobre monitoreo continuo y determinación precisa de parámetros para cada DUT
- Capacidades para tecnologías de banda amplia prohibida, incluyendo semiconductores de potencia SiC y GaN
- Beneficios de un proceso de pruebas completamente automatizado con caracterización completa
Explore los sistemas de pruebas de IOL y ciclos de potencia de vanguardia
Mejore la eficiencia de las pruebas, aumente el rendimiento y reduzca los costos con sistemas avanzados de IOL y ciclos de potencia que cuentan con monitoreo continuo y capacidades especializadas para semiconductores de SiC y GaN.
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