Zuverlässigkeitstest für Breitband-Leistungshalbleiter
Für Breitband-Leistungshalbleiter aus Siliziumcarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN) sind neue, auf bestimmte Anwendungen abgestimmte Testverfahren erforderlich, da bei herkömmlichen Tests bestimmte neuartige Fehlerauswirkungen nicht erkannt werden können. Da sie Einfluss auf die reale Anwendung haben, wird diese Qualifikationslücke durch die dynamische Sperrvorspannung bei hoher Luftfeuchtigkeit und hoher Temperatur (H3TRB) oder die dynamische Sperrvorspannung (DRRB) gemäß der Definition AQG 324 geschlossen.
NI SET mit dynamischen H3TRB- und DRB-Testsystemen für Leistungshalbleiter
In einer Umgebung mit konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit ist der Prüfling dynamischen Drain-Anregungen mit hohen Spannungsspitzen und einem schnellen Spannungsanstieg ausgesetzt. Die Spannungsverschiebungen führen zu schnellen Magnetfeldänderungen, die sich auf die Korrosion auswirken. Das Verfahren beschleunigt die Verschlechterung des Prüflings und möglicherweise auch der Isolationsmaterialien und kommt den realen Betriebsbedingungen des Prüflings am nächsten.
Dieser Test ist eine Voraussetzung für solide Aussagen über die Lebensdauer diskreter SiC- und GaN-Bauelemente oder -Module. Schlüsselparameter des dynamischen H3TRB/AC-HTC/DRB-Testsystems:
- Platz für bis zu 240 Prüflingskanäle pro System mit Vds und maximaler Drain-Spannung bis 1500 V
- Aktiviert einzelne Prüflingsfunktionen wie Kriechstrommessung, Überstromschutz und Spannungsregelung
- Unterstützt sowohl DUT-aktive als auch DUT-passive Testmodi zusammen mit einem vollautomatischen Testverfahren
- Bietet konfigurierbare Ausgangsfrequenzen von 0 Hz bis 500 kHz und Tastgradeinstellungen von 25 Prozent bis 75 Prozent in 5-Prozent-Schritten
- Betrieb unter Umgebungsbedingungen bis 85 °C und 85 Prozent relativer Luftfeuchtigkeit mit optionalen Tests wie AC-HTC
Vorteile der Lösung
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Verbesserte Testbedingungen beziehen zusätzliche Temperatur- und Feuchtigkeitszyklen in die dynamische Belastungsbeurteilung ein
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Flexibilität zur schnellen Abdeckung sich ändernder Anforderungen
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Einzigartige Zuverlässigkeit erfüllt speziell die Zuverlässigkeitsanforderungen der Solarindustrie, die von anderen Tests nicht abgedeckt werden
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Optionale AC-HTC-Testvariante ist auf spezielle Anwendungsszenarien abgestimmt
Leistungshalbleiter-Achterbahn: DRB (Dynamic Reverse Bias, dynamische Sperrvorspannung)
Herausforderungen beim Testen der Zuverlässigkeit von Breitbandgeräten
In diesem Video konzentriert sich Gabriel Lieser von NI auf DRB, einen Zuverlässigkeitstest für Breitbandgeräte. Erfahren Sie mehr über die zwei Möglichkeiten zur Durchführung dieses Zuverlässigkeitstests für SiC- und GaN-Komponenten und was beim Einrichten und Durchführen des Tests zu beachten ist.
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NI bietet eine Vielzahl von Optionen zur Lösungsintegration, die auf Ihre anwendungsspezifischen Anforderungen zugeschnitten sind. Für maximale Systemkontrolle können Sie Ihre eigenen internen Integrationsteams mit der Implementierung beauftragen oder das Know-how von NI und unser weltweites NI-Partnernetzwerk nutzen, um eine schlüsselfertige Produktlösung zu erhalten.
Das Partnernetzwerk von NI ist ein weltweiter Zusammenschluss von Experten für die Entwicklung von Domänen, Anwendungen und Tests im Allgemeinen, die eng mit NI zusammenarbeiten, um den Anforderungen der technischen Fachwelt gerecht zu werden. NI-Partner sind zuverlässige Anbieter von Produktlösungen, Systemintegratoren, Berater, Produktentwickler sowie Experten für Dienstleistungen und Vertriebskanäle, die über Erfahrungen in einer Vielzahl von Branchen und Anwendungsbereichen verfügen.
NI arbeitet während der gesamten Nutzungsdauer einer Anwendung mit den Auftraggebern zusammen und bietet Schulungen, technische Unterstützung, Beratungs- und Integrationsdienste sowie Wartungsprogramme an. Teams können durch die Teilnahme an NI-eigenen und regional ausgerichteten Benutzergruppen neue Fähigkeiten entdecken und ihre Kenntnisse durch Online- und Vor-Ort-Schulungen weiterentwickeln.