半導體裝置的幾何結構不斷縮小,複雜性也日益增加,再加上自駕車等重大技術趨勢的發展,都對半導體供應鏈施加了額外的壓力,導致供應鏈必須提供更高品質且有保障的產品。為因應這些嚴苛的要求,同時比競爭對手提前發布穩定的技術節點,半導體晶圓製程工程師必須比以往,更快取得更多穩定性量測資料。
晶圓級穩定性 (WLR) 解決方案必須滿足以下主要需求:
以領先業界的平行機制與量測速度,縮短 WLR 測試週期(從數月縮短為數日)
高度靈活的 SMU-per-pin 架構,可為通道數設定及升級
透過 WLR Test 軟體人機介面與 API,快速簡便地執行 JEDEC 穩定性測試
可選購外掛程式以進行遠端系統管理和資料分析
了解 NI 的 WLR Test Software 如何讓您使用可客制化的操作介面、業界標準測試定序器以及抽象化的平行機制與多執行緒功能,輕鬆地執行 JEDEC 穩定性測試。
NI 提供多種解決方案整合選項,可針對您的特定應用需求進行客製化。您可利用自有的內部整合團隊,以享有對系統的完整控制,也可運用 NI 與全球 NI 合作夥伴網路所提供的專業技能,取得現成可用的解決方案。
在應用生命週期期間,NI 都會與您密切合作,並提供訓練、技術支援、諮詢與整合服務,以及維護方案。團隊可參與 NI 專屬與當地的使用者團體,以探索新技能,並透過線上與現場教育訓練來提高熟練度。