首頁 解決方案 半導體解決方案 晶圓級參數測試

晶圓級參數測試

晶圓級測試工程師不僅要確保量測品質與準確度，也要縮短測試時間。

NI 提供靈活的晶圓廠參數測試解決方案，可進行擴充以滿足您的需求。

更智慧化的晶圓級參數測試方案

隨著 IC 製造商不斷推出全新創新製程並縮小裝置尺寸，他們也要確保這些變更衍生出的額外複雜度，不會影響到 IC 的長期穩定性。面對日新月異的技術演進，半導體製造商必須收集與分析更多的穩定性資料，同時也要降低測試成本。在面臨需以更低成本取得更多資料的問題下，許多穩定性工程師發現傳統的穩定性解決方案已經無法解決此問題，於是他們開始轉向採用靈活的模組化解決方案，因為這類解決方案可加以擴充，進而滿足其需求。

NI 半導體手冊

深入了解如何運用平台架構的半導體測試方案，降低測試成本。

焦點內容

有了 PXI 平台與 LabVIEW 後，Imec 不僅能提升其半導體流程的靈活性，也可以縮短晶圓級測試時間。

Imec 將晶圓級參數測試週期從 1 個月縮短至 3 天

比利時微電子研究中心 (Imec) 利用 PXI 平台縮短了測試時間、將成本降低 75%，並順利完成了過去無法進行的流程實驗。

使用參數測試系統適用的參數測試系統，就能大幅減少 WLR 系統的佔用空間，而且確保量測品質不受影響。

透過 PXI 平台建立高度平行的晶圓級穩定性系統

PXI 可提供最新商用處理器與同級最佳 PXI SMU 應用組合，是打造長時間運作的每針腳 SMU 晶圓級穩定性系統的基礎平台。

NI SMU 規格精巧，且具備模組化特性，因此對平行 IV 測試系統而言至關重要。

NI SMU 的優勢

NI SMU 結合傳統箱型 SMU 的功能與量測效能，再加上運用 NI 技術，因此體積更小巧、速度更快，靈活性也更高。

產品與解決方案

應用資源

PXI 平台資源組合

了解適用於半導體特性分析的 PXI 平台基本概念，包含架構說明、相關使用者解決方案與效能指標。