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什麼是電子掃描陣列 (ESA) 特性分析參考架構?
ESA 特性分析參考架構是一種可擴充的模組化解決方案,其中包含 Pulsed RF Measurement Library,可因應整個設計生命週期的各種測試挑戰。
ESA 參考架構的模組化硬體與 IP 函式庫,說明了如何進行脈波分析 (例如脈衝輪廓與脈衝穩定性),以針對功率放大器與傳輸/接收模組進行正確的特性分析。
ESA 特性分析參考架構可讓您使用連續波與脈衝波形進行靈活的 S 參數量測作業,而且所用的硬體與使用 VST 進行大型訊號分析相同。您可以將 S 參數與其他測試結合,並透過單一可重設的模組化系統來簡化整合作業。
參考架構 IP 可提供用於功率增強效率 (PAE) 量測的互動範本和程式化 API,簡化 DC 與 RF 量測結果的整合作業。
ESA 特性分析參考架構說明如何透過 TestStand 來自動化功率增強效率等常見的量測作業,以便您進行功率與頻率的量測作業。
在雷達/電子作戰應用的主動式電子掃描陣列系統中,最理想的就是多通道相位同調系統,這種系統可運用向量訊號收發儀 (VST) 進行設定。
深入了解 PXI 架構與其實際應用。
深入了解測試電子掃描陣列 (ESA) 元件所面臨的挑戰。
包含對電子掃描陣列系統中所用元件執行脈衝 RF 量測的函式。
將向量訊號產生器、向量訊號分析儀,以及 FPGA 架構的即時訊號處理與控制功能相互結合。
將專為減少測試時間並提高操作靈活度而設計的功能,與高精確度電源及量測功能相互結合。
PXI 向量訊號分析儀 (VSA) 可提供廣泛的頻率範圍、即時訊號分析,以及進階的訊號處理功能。
尋找完整的產品說明書,以了解如何使用此產品。
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