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什麼電子掃描陣列 (ESA) 特性分析參考架構?

ESA 特性分析參考架構是一種可擴充的模組化解決方案,其中包含 Pulsed RF Measurement Library,可因應整個設計生命週期的各種測試挑戰。

在 ESA 上進行脈波分析

在 ESA 上進行脈波分析

ESA 參考架構的模組化硬體與 IP 函式庫,說明了如何進行脈波分析 (例如脈衝輪廓與脈衝穩定性),以針對功率放大器與傳輸/接收模組進行正確的特性分析。

使用 VST 量測 ESA 的 S 參數

RF 直接量測

ESA 特性分析參考架構可讓您使用連續波與脈衝波形進行靈活的 S 參數量測作業,而且所用的硬體與使用 VST 進行大型訊號分析相同。您可以將 S 參數與其他測試結合,並透過單一可重設的模組化系統來簡化整合作業。

ESA 上功率增強效率

在 ESA 元件測 PAE

參考架構 IP 可提供用於功率增強效率 (PAE) 量測的互動範本和程式化 API,簡化 DC 與 RF 量測結果的整合作業。

透過 TestStand 自動化 ESA 量作業

自動化 ESA 量作業

ESA 特性分析參考架構說明如何透過 TestStand 來自動化功率增強效率等常見的量測作業,以便您進行功率與頻率的量測作業。

焦點內容

 

現代電子掃描陣列設計測試挑戰

 

深入了解測試電子掃描陣列 (ESA) 元件所面臨的挑戰。

 

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