From Saturday, Nov 23rd 7:00 PM CST - Sunday, Nov 24th 7:45 AM CST, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
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現代雷達與衛星通訊應用在利用與保護電磁頻譜時,被動式與主動式電子掃描陣列 (ESA) 扮演相當重要的角色。任務成敗的關鍵,就在這些系統內 RF 與微波半導體元件的特性分析與生產測試。此領域的技術創新也帶來了艱鉅的設計與測試挑戰,包括:
運用 NI 的模組化平台開發測試系統,滿足您的高度混合與低產量需求
相較於傳統儀器,使用高效能測試設備可大幅降低資金成本
NI 領先業界的量測速度與品質,能更快擷取品質更佳的資料,並同時執行多個測試案例
NI 提供多種解決方案整合選項,可針對您的特定應用需求進行客制化。您可利用自有的內部整合團隊,以享有對系統的完整控制,或是也可運用 NI 與全球 NI 合作夥伴網路所提供的專業技能,取得現成可用的解決方案。
NI 合作夥伴網路為全球社群,由頻域、應用與整體測試開發專家組成,並與 NI 密切合作,以滿足工程社群的需求。NI 合作夥伴是值得信賴的解決方案業者、系統整合商、顧問、產品開發人員,以及服務與銷售通道專家,擁有涵蓋諸多產業和應用領域的豐富技能。
在應用生命週期內,NI 都會與您密切合作,並提供教育訓練、技術支援、諮詢與整合服務,以及維護方案。透過我們專為企業提供的當地使用者群組,提升學習效率。透過線上與現場教育訓練選項,加深熟練度。
探索 ESA 特性分析參考架構如何透過模組化方式,開發可擴充的測試系統,協助您驗證並測試雷達、電子作戰與通訊衛星 (SATCOM) 的最新一代 ESA 元件、模組與子組件,以滿足高度混合、低產量的測試需求。