首頁 產品選購 電子測試與儀控 適​用​於​電​子​測​試​與​儀​控​的​程​式​設​計環境 什麼是 LabWindows/CVI？ 如何使用 LabWindows/CVI 進行電子裝置特性分析測試除錯？

如何使用 LabWindows™/CVI™ 進行電子裝置特性分析測試除錯？

LabWindows/CVI 是一款 ANSI C 開發環境，協助您更快地驗證諸多電子裝置，以滿足時程需求。透過內建的遠端與行內除錯工具，可縮短因毀損測試應用而造成的停機時間。

了解 LabWindows/CVI 的眾多用途

透過豐富的工具集，LabWindows/CVI 可縮短測試程式碼除錯時間。妥善利用適用於單一與多執行緒應用的多種強化除錯功能，以及為繁複專案所設的優化視窗管理體驗。LabWindows/CVI 的技術資料管理解決方案 (TDMS) 檔案格式可有效地儲存並存取除錯資料。

查看 LabWindows/CVI 功能

在直覺式編輯環境中，使用除錯工具

LabWindows/CVI 提供可節省時間的除錯工具與功能，包含強化語法、 UI 活動記錄資訊、視窗管理功能，可協助您的應用達到最佳效能。

執行多核心除錯，以最佳化程式碼效能

LabWindows/CVI 包含的新功能有執行緒暫停點與循跡點，以替多核心應用進行除錯。您可利用這些功能，以每執行緒為基礎、取得深入分析並完整利用其處理能力。

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以 TDMS 檔案格式資料，取得最多資料深入分析

LabWindows/CVI 可原生存取 TDMS 檔案格式，以儲存並擷取合適的測試與資料訊息。當您有需求的時候，已整理過的資訊將更容易讀取、搜尋。

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