模組化資料擷取
分散式量測與控制
高效能測試
自動化測試系統開發軟體
專業觀點單元介紹 NI 對測試與技術領域的未來展望。
可申請維修、RMA、安排校準時間,或取得技術支援。可能需具備有效的服務計畫協定。
提供適用於 NI 資料擷取與訊號處理裝置的支援。
提供適用於乙太網路、GPIB、序列、USB 與其他類型儀器的支援。
提供適用於 NI GPIB 控制器與配備 GPIB 連接埠之 NI 嵌入式控制器的支援。
什麼是 NI PXI 數位碼型產生器?
PXI 數位碼型產生器可為符合業界標準的 PXI 平台,提供 ATE 級數位技術。其可測試多種 RF 與混合訊號 IC,適用於 RF 前端、電源管理 IC、收發儀,以及內建連線功能與感測器的物聯網系統晶片等。
數位碼型編輯器是能夠匯入、編輯或建立測試碼型的互動式工具。數位碼型編輯器軟體可針對裝置引腳分布圖、規格與碼型整合編輯表,以開發或編輯匯入的數位測試向量與碼型。
數位碼型編輯器包含 Schmoo Plot 等工具,有助於深入了解受測裝置 (DUT) 在不同變異下的效能。此編輯器也提供除錯工具,例如可在碼型上重疊碼型錯誤,或是使用數位示波器以提供針腳資料的類比檢視。
LabVIEW 內的 NI-Digital Pattern Driver、C 或 .NET 開發工具,都能用來開發測試程式碼,以便與 PXI 數位碼型產生器互動。
TestStand 半導體模組可搭配數位碼型編輯器、NI-Digital Pattern Driver (含原生引腳分布圖支援與多點功能) 以及半導體測試系統 (STS) 以 DUT 為主的測試程式設計,一起使用。
更深入了解 PXI 架構與其實際應用。
了解如何藉由轉移現有的 PXI 系統,以妥善利用 PXI 數位碼型產生器為 ATE 級數位技術所提供的功能。
探索 STS 如何針對半導體生產環境,提供 PXI 平台的開放性與靈活性。
應用資源
建立測試系統的基本原理
要降低成本、讓測試投資的生命週期更臻理想,並且盡可能提高效率,必須定義測試策略並規劃系統投資。了解測試系統的測試策略、最佳實務與設計取捨。
將專為減少測試時間並提升靈活性而設計的功能,與高精確度電源及量測功能相互整合。
InstrumentStudio 是一種設定環境,用於控制儀器、執行量測,以及開發能加快驗證速度的測試序列。
將向量訊號產生器、向量訊號分析儀,以及 FPGA 架構的即時訊號處理與控制功能相互結合。
尋找完整的產品說明書,以了解如何使用此產品。
找出支援儀器的驅動程式與產品相關下載。
探索豐富的支援內容,包含範例與除錯資訊。
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