模块化数据采集
分布式测量与控制
高性能测试
自动化测试系统开发软件
趋势瞭望呈现NI对测试和技术领域的未来展望。
您可以申请维修、接受服务、安排校准或获得技术支持。但可能需要有效的服务协议。
为NI数据采集和信号调理设备提供支持。
为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
什么是NI PXI LCR仪表?
PXI LCR仪表提供的功能可帮助用户轻松、顺畅地测量并测试电子设备的电感、电容和电阻(LCR)。
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PXI LCR表支持在单槽PXI机箱中进行飞法级电容测量和飞安级电流测量。可通过简短的演示视频,了解PXI LCR表的功能和性能。
入门建议
PXI LCR仪表套件是由NI最热门的高品质LCR仪表和Thunderbolt™控制机箱组成的预配置套装,可帮助用户轻松入门。
IMEC在其晶圆厂内部署了基于PXI SMU的ATE,不仅降低了75%的成本,而且将晶圆工艺流程测试的项目周期从一个月缩短到仅仅三天。
借鉴基础优秀实践,帮助测试工程师提高直流测量准确度以及产品质量。
借助NI PXIe-4190 LCR表和SMU(业界首款超紧凑型仪器),工程师无需切换被测设备的连接即可进行CV/IV测量。
兼具高精度源和测量能力,可减少测试时间并增加灵活性。
借助timing set与每通道引脚参数测量单元(PPMU),执行半导体设备的特性分析以及生产测试。
InstrumentStudio是一个基于配置的环境,用于控制仪器、运行测量以及开发测试序列以加快验证。
将矢量信号分析仪、矢量信号发生器以及基于FPGA的实时信号处理和控制相结合。
查看完整的产品文档,了解如何开始使用该产品。
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浏览丰富的支持资源,其中包含大量的范例和疑难解答信息。
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