NI基于PXI的DMM款型从低成本6½位型号到高性能7½位型号等不一而足,包含市面上精度更高的7½位DMM。某些型号所独有的特性包括扩展的测量范围、采样率高达1.8 MS/s的隔离数字化仪模式、延长的校准周期和基本电感与电容测量。将以上特性结合到单台仪器中,为传统精密仪器所固有的测量难题(测量能力和灵活性有限)提供了解决方案。这些DMM为解决从消费性电子产品到航空和国防工业等各行各业的应用难题提供了更智能的方法。
图1:PXIe-4081 DMM是针对任何测试和测量系统的理想解决方案。
分辨率(位) | 6½ | 6½ | 7½ | 6½ |
最大电压(V) | 300 | 300 | 1,000 | 300 |
最大电流(A) | 3 | 1 | 3 | 1 |
最大采样率 | 3 kS/s | 1.8 MS/s | 1.8 MS/s | 1.8 MS/s |
电压精度(10 VDC,2年) | *90 + 12 ppm | 25 + 6 ppm | 12 + 0.5 ppm | 25 + 6 ppm |
最长校准周期 | 1年 | 2年 | 2年 | 2年 |
直流电压和交流电压 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
直流电流和交流电流 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
2线和4线电阻 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
频率/周期 |
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基本电感/电容 |
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*PXI-4065不提供2年期精度保证,故这里显示的是1年期精度保证。 |
表1:NI的DMM款型从低成本6½位型号到市面上更高精度的7½位型号等不一而足。
图2:NI基于PXI的DMM为传统精密仪器所固有的测量难题(测量能力和灵活性有限)提供了解决方案。
由于NI DMM专为自动化测试应用而设计,因此该仪器主要通过软件来进行控制和通信。针对快速测量或应用调试,DMM软面板为用户提供了与传统台式仪器类似的前面板体验。
图3:NI的DMM驱动程序(NI-DMM)包括一个交互式软面板,用于快速测量和应用调试。
除了软面板之外,DMM驱动程序还包括可支持LabVIEW、C和C#等各种开发选项的出色API。为保证DMM的长期互操作性,NI-DMM驱动程序API与先前和目前正在使用的NI DMM的API型号一致。驱动程序还可提供帮助文件、文档说明和数十个可立即执行的范例,这些范例可作为您开发应用程序的开端。
图4:NI的DMM驱动程序(NI-DMM)包括数十个可立即执行的范例。
模数转换器(ADC)是高性能PXIe-408x DMM的核心组件。现成的高速ADC技术和定制设计的delta-sigma转换器的独特组合,可提供高速、高精度测量所需的噪声、线性度和速度方面的性能。
图5:在12个小时的0 VDC噪声和漂移测试(每一台DMM设置为100 mV输入范围和10 PLC孔径时间)中,PXIe-4081(蓝色)测试性能胜过高性能的6½位(浅灰)和7½位(深灰)台式DMM。
PXIe-4081使用目前更稳定的板载参考电压源来实现不同温度与时间下的稳定性能。其他同价位的DMM均无法提供这样的参考电压源和稳定性,这就解释了为什么PXIe-4081提供了12 ppm的两年期精度保证,可通过更大程度减少仪器校准的停机时间来进一步降低测试成本。这样就能够以更低的拥有成本和更少的停机时间为您提供更准确的测量,而多数传统的台式DMM仅提供一年的精度保证。PXIe-4081还采用了高级的DMM测量技术,比如偏移补偿电阻、高阶直流噪声抑制和自校准,以确保精确测量。
传统的DMM设计更注重高分辨率和精度而忽略了采集速度。PXIe-408x DMM的独特架构提供了7 S/s至10 kS/s连续变化的读取速率,您可以选择满足应用需求的采样率和分辨率。
图5:现成的高速ADC技术和定制设计的delta-sigma转换器(电路如上图所示)的独特组合优化了DMM的线性度和噪声,提供了高达7½位的高精度和稳定性以及高达1.8 MS/s的数字化仪采样率。
图6:PXIe-408x DMM的采样率是传统台式DMM的36倍,可帮助您更深入了解待测设备。
NI DMM具有自校准功能,这一功能过去只有极高分辨率的DMM才能提供。自校准使用一个高度稳定的精准内部电压参考源来校正DMM内的所有DC增益和偏置漂移,这个内部电压参考源具有出色温度系数和时间漂移,同时也考虑了所有电阻和电流源漂移。自校准使得NI DMM在任何工作温度下(即使在典型的18 °C至28 °C范围之外)均具有高准确度和高稳定性。
图7:自校准使NI PXI DMM在建议的2年外部校准周期内进一步提高了测量准确性。
这一操作只需不到一分钟时间就可以完成,而且不需要外部校准仪,可以更大程度减少已部署系统的维护负担。由于自校准精密电路可更大程度减少已部署系统的维护负担,因而PXIe-408x DMM提供了两年的外部校准周期。要了解关于NI校准服务的更多内容,请访问ni.com。
NI DMM利用PXI平台固有的定时和同步功能来与PXI机箱内的开关和其他仪器进行通信。您可以将开关与DMM搭配使用来扩展仪器的测量功能,可测试上百甚至上千个测试点。NI DMM通过PXI背板来发送和接收硬件定时的触发信号,并对开关模块板载内存中存储的开关连接列表进行扫描,从而实现与NI开关的“握手”。这种扫描方法避免了传统扫描列表方法所需的软件开销,可创建一个确定的扫描列表,以更具重复性的定时更快执行测试。
图8:通过将NI DMM与NI开关同步来创建硬件定时的扫描列表,可以大幅提升测试速度。
此外,PXI平台还包含了电源、示波器和函数发生器等自动化测试应用中常与DMM搭配使用的仪器,从而能够以紧凑的外形构建紧密集成的系统。另外,DMM还可通过PXI背板来发送和接收触发信号,将测量与其他仪器的操作同步,而且无需外部线缆来路由触发信号。
图9:PXI平台可与各种仪器进行出色的同步和集成,如源测量单元(SMU)、示波器、数字仪器和射频信号分析仪与发生器。
NI DMM适用于从半导体特性分析到航空生产测试等各种应用,提供了高性能测量质量、业界领先的速度和全面的软件支持,有助于开发更智能的自动化测试和测量系统。您可以将NI DMM与基于PXI的开关结合起来构建高通道数采集系统,借助确定的硬件定时来执行成百上千次继电器闭合的扫描列表。PXI平台还提供了独立式台式DMM所不具备的仪器,包括SMU、电源、示波器、波形发生器和射频信号分析仪与发生器。NI DMM专门针对自动化测试应用而设计,具有比传统DMM更出色的测量质量,是您开发下一个测试系统的理想之选。