고도의 병렬 웨이퍼 레벨 신뢰성으로 시장 출시 시간 단축

반도체 디바이스 형상은 점점 더 축소되고 복잡해지는 반면, 자율 주행 차량과 같은 주요 기술 트렌드로 말미암아 반도체 공급망에는 더 높은 수준으로 제품 품질을 보증해야 한다는 압박이 더욱 가중되고 있습니다. 반도체 웨이퍼 공정 엔지니어가 이처럼 도전적인 요구에 부응하면서도 경쟁사에 한발 앞서 안정적인 기술 노드를 계속 선보이려면 그 어느 때보다도 신뢰도 측정 데이터가 많아야 하며 이런 데이터를 전보다 훨씬 더 빠르게 입수해야 합니다.

WLR(웨이퍼 레벨 신뢰성) 솔루션은 다음과 같은 주요 요구사항을 충족해야 합니다.

• 웨이퍼 기술 노드 개발, 공정 통합, 공정 모니터링 지원
• 충분한 양의 신뢰도 측정 데이터를 신속히 생성하여 정확한 통계 모델 구축 및 데이터 기반 의사 결정 지원
• 일반적인 장애 메커니즘 (TDDB, HCI 및 BTI/NBTI, Vramp, Jramp 등)에 대한 JEDEC 표준 준수
• 총 WLR 테스트 시간 단축 및 데이터 속도 가속화
• 자본 지출과 팹 플로어 공간의 효율성 극대화