반도체 디바이스 형상은 점점 더 축소되고 복잡해지는 반면, 자율 주행 차량과 같은 주요 기술 트렌드로 말미암아 반도체 공급망에는 더 높은 수준으로 제품 품질을 보증해야 한다는 압박이 더욱 가중되고 있습니다. 반도체 웨이퍼 공정 엔지니어가 이처럼 도전적인 요구에 부응하면서도 경쟁사에 한발 앞서 안정적인 기술 노드를 계속 선보이려면 그 어느 때보다도 신뢰도 측정 데이터가 많아야 하며 이런 데이터를 전보다 훨씬 더 빠르게 입수해야 합니다.
WLR(웨이퍼 레벨 신뢰성) 솔루션은 다음과 같은 주요 요구사항을 충족해야 합니다.
업계 최고의 병렬 처리 및 측정 속도로 수개월이 걸리던 WLR 테스트 사이클을 단 며칠로 단축할 수 있습니다.
매우 유연한 핀당 SMU 아키텍처에서 설정 및 업그레이드 가능한 채널 수
WLR Test Soft Front Panel 및 API를 사용하여 빠르고 간단하게 JEDEC 신뢰성 테스트 수행
원격 시스템 관리 및 데이터 분석을 위한 애드온이 옵션으로 제공됩니다.
NI의 WLR Test Software를 사용하여 사용자 지정이 가능한 운영자 인터페이스, 업계 표준 테스트 시퀀서, 추상화된 병렬화 및 멀티스레딩 기능을 통해 JEDEC 신뢰성 테스트를 쉽게 실행할 수 있는 방법을 알아보십시오.
NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.
NI는 어플리케이션 수명 주기 전반에 걸쳐 고객과 협력하여 교육, 기술 지원, 컨설팅 및 통합 서비스, 유지 관리 프로그램을 제공합니다. 고객은 NI 특정 사용자 그룹과 지역별 사용자 그룹에 참여하여 새로운 기술을 접할 수 있으며 온라인과 방문 교육으로도 기술을 습득할 수 있습니다.