주파수 범위가 최대 26.5 GHz에 이르는 NI VNA는 NI InstrumentStudio™ 소프트웨어를 통해 교정 프로세스를 단순화하여 빠르고 정확하게 2 포트 S 파라미터를 측정하고 RF 구성요소를 특성화합니다.
이 웨비나에서는 NI PXIe-5633을 NI PXIe-5842 VST와 함께 사용하는 경우 변조된 S 파라미터를 측정하는 방법에 대해 살펴봅니다.
PXI VNA는 섀시, 컨트롤러 및 모듈을 포함한 하드웨어 및 소프트웨어 구성요소를 결합하여 복잡한 측정 문제와 자동화 문제를 해결할 수 있는 고급 테스트 및 측정 솔루션입니다.
디바이스는 더 복잡해지고 사이클은 더 짧아지는 가운데 시장 요구 사항까지 충족해야 하는 상황에서 모듈형 PXI 플랫폼은 효율적인 테스트 자동화를 통해 엔지니어가 요구 사항을 초과 달성할 수 있도록 지원합니다.
어플리케이션 노트
RF 측정 기본사항
테스트 절차를 효율적으로 진행하기 위해서는 RF 테스트 모범 사례를 이해하고 정확한 결과를 얻는 것이 매우 중요합니다. RF 특성화 테스트에 필요한 측정에 RF 계측기를 사용하는 방법에 대해 살펴봅니다.