모듈형 데이터 수집
분산 측정 및 제어
고성능 테스트
자동화 테스트 시스템 개발 소프트웨어
관점에서는 NI가 보는 테스트 및 기술 분야의 향후 전망을 소개합니다.
수리, RMA를 요청하거나, 교정을 예약하거나, 기술 지원을 받을 수 있습니다. 유효한 서비스 계약이 필요할 수 있습니다.
NI의 수집 및 신호 컨디셔닝 디바이스에 대한 지원을 제공합니다.
이더넷, GPIB, 시리얼, USB 및 다른 종류의 기기에 대한 지원을 제공합니다.
NI GPIB 컨트롤러 및 GPIB 포트가 있는 NI 임베디드 컨트롤러에 대한 지원을 제공합니다.
ESA(전자 스캔 배열) 특성화 참조 아키텍처란?
ESA 특성화 참조 아키텍처는 설계 수명 주기 전반에 걸쳐 복잡한 테스트 문제를 해결하기 위해 펄스 RF 측정 라이브러리를 포함하는 확장 가능한 모듈식 솔루션입니다.
참조 아키텍처의 ESA용 모듈형 하드웨어 및 IP 라이브러리는 펄스 프로파일 및 펄스 안정성과 같은 펄스 분석을 수행하여 전력 증폭기 및 전송/수신 모듈을 적절하게 특성화하는 방법을 보여줍니다.
ESA 특성화 참조 아키텍처는 VST를 사용한 대규모 신호 분석과 동일한 하드웨어에서 CW 및 펄스 파형을 사용하여 유연한 S 파라미터 측정을 수행할 수 있도록 돕습니다. S 파라미터를 다른 테스트와 결합하면 재구성 가능한 단일 모듈식 시스템을 사용하여 통합을 단순화할 수 있습니다.
이 참조 아키텍처 IP는 PAE(전력 추가 효율성) 측정을 위한 대화형 예제와 프로그래밍 방식 API 모두에서 DC 및 RF 측정의 통합을 단순화합니다.
ESA 특성화 참조 아키텍처는 전력 및 주파수에 대한 측정을 수행할 수 있도록 TestStand를 사용한 전력 추가 효율성 측정 같은 일반적인 측정을 자동화하는 방법을 보여줍니다.
레이더/EW 어플리케이션을 위한 능동 전자 스캔 배열 시스템에서는 다중 채널 위상 일관성 시스템이 매우 바람직하며 이는 VST(벡터 신호 트랜시버)를 사용하여 설정할 수 있습니다.
PXI 아키텍처와 실제 어플리케이션에 대해 더 깊이 이해하실 수 있습니다.
전자 스캔 배열(ESA) 구성 요소 테스트에서 어려운 점에 대해 자세히 알아보십시오.
전자 스캔 배열 시스템에 사용되는 구성 요소에 대한 펄스 RF 측정을 수행하기 위한 기능이 포함되어 있습니다.
벡터 시그널 생성기와 벡터 시그널 분석기를 FPGA 기반의 리얼타임 신호 처리 및 제어 기능과 결합합니다.
고정밀 소스 측정 기능과 테스트 시간 절감 및 유연성 향상 기능을 결합한 제품입니다.
PXI 벡터 신호 분석기(VSA)는 넓은 주파수 범위, 실시간 신호 분석 및 고급 신호 처리 기능을 제공합니다.
제품 관련 문서를 통해 제품의 사용법 및 활용법을 알아보십시오.
지원되는 인스트루먼트 드라이버 및 다운로드 가능한 제품을 검색하십시오.
예제, 문제해결 정보를 비롯한 다양한 기술지원 콘텐츠를 살펴보십시오.
원하는 항목을 선택하십시오. 시작할 수 있도록 도와드리겠습니다.
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