From Saturday, Nov 23rd 7:00 PM CST - Sunday, Nov 24th 7:45 AM CST, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
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수동 및 능동 전자 스캔 배열(ESA)은 최신 레이더 및 SATCOM 어플리케이션에서 전자기 스펙트럼을 활용하고 방어하는 데 필수적 역할을 합니다. 임무의 성공은 이러한 시스템 내 RF 및 마이크로파 반도체 부품의 특성화와 생산 테스트를 중심으로 이루어집니다. 이 분야의 기술 혁신은 다음과 같은 중대한 설계 및 테스트 문제를 야기하고 있습니다.
NI의 모듈식 플랫폼을 활용하여 다종 소량 요구 사항을 충족하는 테스트 시스템 개발
기존 장비에 비해 고성능 테스트 장비를 사용하여 자본 비용이 대폭 감소
NI의 선도적인 측정 속도와 품질로 더 나은 데이터를 더 빠르게 캡처하고 여러 테스트 케이스를 동시에 실행
NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.
NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 전체 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.
NI는 어플리케이션 수명 주기 전반에 걸쳐 교육, 기술 지원, 컨설팅 및 통합 서비스, 유지 관리 프로그램을 제공하여 성공을 지원합니다. 회사별, 지역별 사용자 그룹을 이용하여 더욱 효율적으로 학습하십시오. 온라인 및 현장 교육 옵션을 통해 숙련도를 올리십시오.
ESA 특성화 참조 아키텍처가 어떻게 레이더, EW 및 SATCOM용 최신 ESA 구성 요소, 모듈 및 서브 어셈블리를 다종 소량 테스트 요구 사항으로 확장 가능한 모듈식 테스트 시스템 개발 접근법으로 검증하고 테스트할 수 있는지 알아보십시오.