RF 및 마이크로파 구성 요소 및 모듈 테스트에 대한 위험 절감

수동 및 능동 전자 스캔 배열(ESA)은 최신 레이더 및 SATCOM 어플리케이션에서 전자기 스펙트럼을 활용하고 방어하는 데 필수적 역할을 합니다. 임무의 성공은 이러한 시스템 내 RF 및 마이크로파 반도체 부품의 특성화와 생산 테스트를 중심으로 이루어집니다. 이 분야의 기술 혁신은 다음과 같은 중대한 설계 및 테스트 문제를 야기하고 있습니다. 

 

  • 최신 GaN 프로세스 기술을 기반으로 하는 보다 효율적인 고전력 RF 디바이스 
  • 점차적으로 더 넓은 대역폭을 사용하며 점점 더 복잡해지는 RF 부품 및 모듈 
  • 주파수 민첩성 및 다중 대역 어플리케이션을 처리하기 위한 다중 채널 RF 프런트엔드 
  • 더 많은 RF 채널 및 고속 디지털 I/O 통합 
  • 다기능 어플리케이션 요구 사항을 충족하는 소프트웨어 정의 디지털 처리 기능  

전자 스캔 배열(ESA) 특성화 참조 아키텍처

  • 혼합 I/O 테스트 어플리케이션을 위한 DC, RF 및 디지털 인터페이스 요구 사항의 광범위한 적용 범위 
  • 구성 요소, 모듈 및 서브 어셈블리 테스트를 위한 확장 가능한 구성 
  • 펄스 대 펄스 안정성 및 S-파라미터를 포함한 레이더 구성 요소 검증에 최적화된 펄스 측정 
  • 테스트 시스템 및 어플리케이션 개발, 디버깅 및 배포를 위한 통합 소프트웨어 
  • RFmx 및 InstrumentStudio 소프트웨어를 통한 추가 측정 가능 

NI 솔루션의 장점

“차세대 위상 배열 기술을 연구하는 팀은 극심한 시장 압력에 직면해 있습니다. 기술 발전으로 인해 이전 세대보다 짧은 시간에 해결해야 하는 새로운 테스트 시나리오가 만들어지며, 기존 접근 방식은 위험을 더하는 데다 이러한 문제를 해결할 확장성이 부족했습니다. 전자 스캔 배열 특성화 참조 아키텍처를 통해 팀은 차세대 위상 배열 및 그 구성 요소를 시장에 나와 있는 기존 솔루션보다 확장 가능한 방식으로 자신 있게 검증하고 테스트할 수 있습니다."

–Luke Schreier, SVP 및 GM, 항공우주, 국방 및 정부 BU, NI

NI 에코시스템에서 나만의 솔루션 구축

NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.

NI 파트너 네트워크

NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 전체 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.

서비스 및 지원

NI는 어플리케이션 수명 주기 전반에 걸쳐 교육, 기술 지원, 컨설팅 및 통합 서비스, 유지 관리 프로그램을 제공하여 성공을 지원합니다. 회사별, 지역별 사용자 그룹을 이용하여 더욱 효율적으로 학습하십시오. 온라인 및 현장 교육 옵션을 통해 숙련도를 올리십시오.

ESA 특성화 참조 아키텍처 브로슈어

ESA 특성화 참조 아키텍처가 어떻게 레이더, EW 및 SATCOM용 최신 ESA 구성 요소, 모듈 및 서브 어셈블리를 다종 소량 테스트 요구 사항으로 확장 가능한 모듈식 테스트 시스템 개발 접근법으로 검증하고 테스트할 수 있는지 알아보십시오.