最新のEO/IR画像システムのテストにかかる時間を短縮しその複雑さを軽減する
焦点面アレイ (FPA) システムは、気象予報、安全性、ISR、戦術防衛システムなど、あらゆる運用ドメインで使用されています。FPAのエンジニアは、高分解能や高い信頼性と感度によって画像システムの性能を向上させるための設計を行っています。納期どおりに予算内で納品するために、エンジニアは、カスタマイズの必要性と標準化に対する要求のバランスを取りながら、設計、テスト、要件への適応を効率的に行う方法を見つける必要があります。以下に、FPAテストエンジニアが直面する典型的な課題をいくつか示します。
- 柔軟性があり標準化されたテストソリューションによって、プログラムのデプロイメントに必要な期間を短縮する
- 一般的なテスタを使用して、さまざまなI/Oタイプやデバイスをテストする
- 最新のEO/IR読み出しIC (ROIC) テクノロジに対応したカスタマイズ可能なインタフェースプロトコル
- デュワークーラアセンブリへの統合 (IDCA) の前後で、並列サブシステムの開発とテストを可能にする
- パラメトリック計測から完全なシステムレベルの検証までに対応するテスト機能を提供する
EO/IR画像検出システムのテストソリューション
- PXI Express、LabVIEW、TestStandを使用したソフトウェア接続型テストシステムにより、1つのシステムでI/Oや計測のタイプをすべてカバー
- 一般的なデータインタフェースや制御インタフェースをサポートRS422、SpaceWire、MIL-STD-1554、Serial RapidIO® (SRIO)、XAUI、Aurora、10 GbE、その他
- PXI Express SMUテクノロジを使用した高感度FPAバイアスインタフェースのための高精度なテスト
- LabVIEW FPGAを使用する高速シリアル計測器とのROICインタフェースが調整されている場合、そのようなインタフェースに対応するためにカスタマイズされたFPGA機能
ソリューションのメリット
-
一般的なプラットフォームを使用し、IPとベストプラクティスの再利用によりテストエンジニアリングチームの効率を向上させる
-
FPGA評価ボード上に設計されたカスタムテストシステムに関する陳腐化とメンテナンスの課題を軽減できる
-
柔軟性の高いオープンなモジュール式計測器に合わせて拡張できる標準化されたプラットフォームを使用することで、プログラムごとにテスタを最初から再設計する必要がなくなる
-
テストシステムを単一のハードウェア/ソフトウェアソリューションに統合可能
-
パラメトリック計測から完全なシステムレベルの検証まで、あらゆるテスト要件に対応可能
Viewpoint SystemsのAEDIS FPAテストアーキテクチャ
最新のFPAテストシステム
Viewpoint Systems社は、FPAデータインタフェースエミュレーションとデータインタフェースキャプチャ機能にNIの柔軟性のあるモジュール式計測器を使用します。AEDISアーキテクチャは、多くのEO/IRテスタに共通する事前に作成されたコンポーネントにより、カスタム要件に適応しつつ、開発時間を短縮します。
NIのエコシステムでソリューションを構築する
NIでは、アプリケーション固有の要件に合わせてカスタマイズされた、さまざまなソリューション統合オプションを提供しています。社内で統合チームを組織してシステムを完全に統括することも、NIと世界各地のNIパートナーネットワークの専門技術を活用したターンキーソリューションをご利用いただくことも可能です。
EO/IR FPAシステムテストに関する業界リーダーであるViewpoint Systems社にお問い合わせください。Viewpoint Systems社のAedisプラットフォームは、高帯域幅で多チャンネルの画像作成サブシステムをテストするためのFPAエミュレーション/収集システムです。NI技術について25年以上の経験があるViewpoint Systems社は、お客様にとって理想的なFPAテストソリューションの構成と開発をサポートします。
NIは、トレーニング、技術サポート、コンサルティング、インテグレーションサービス、保守プログラムによって、アプリケーションのライフサイクル全体を通してお客様とのパートナーシップを築きます。会社ごとや地域ごとのユーザグループで知識を深めることができます。オンラインおよび対面のトレーニングオプションで習熟度を高めます。
NIパートナーは、日本アライアンスプログラムに参加しているシステムインテグレータを中心としたパートナー企業で、代理店の関係は有していません。また、NIとのいかなる取引関係にも属しません。