Sパラメータ測定の実行
最大26.5 GHzの周波数帯域により、NI VNAはNI InstrumentStudio™ソフトウェアを使用してキャリブレーションプロセスを簡素化し、迅速かつ正確な2ポートのSパラメータ測定とRFコンポーネントの特性評価を行います。
特集コンテンツ
新しい26.5 GHzベクトルネットワークアナライザの利点と用途
このウェビナーでは、NI PXIe-5633をNI PXIe-5842 VSTと組み合わせて、変調およびSパラメータ測定を行う方法を学びます。
NI PXIを使用したRFフロントエンドテスト
PXIプラットフォームを使用してRFフロントエンドテストを実行することで、ベンチスペースを削減し、市場投入までの時間を短縮し、従来のベンチトップ計測器の確度を維持します。
ICテストの新しいアプローチ
デバイスの複雑さが増し、サイクルが短くなり、市場の要求への対応が進化する中で、モジュール式PXIプラットフォームは、効率的なテスト自動化を通じてエンジニアが要件を満たすことができるよう支援します。
アプリケーション
テスト
テスト戦略を定義し、システム投資を計画することは、コストを削減し、テスト投資のライフサイクルを最適化し、効率を最大化するために重要です。テストシステムのテスト方法、ベストプラクティス、設計のトレードオフを学習します。
