PXIベクトルネットワークアナライザ (VNA) は、RFソース、測定、信号分離機能を手動または自動ベクトルキャリブレーションと組み合わせることで、設計、妥当性確認、製造テストシステムにおけるRFデバイスの正確かつ再現性のあるSパラメータ測定を可能にします。
最大26.5 GHzの周波数帯域により、NI VNAは、NI InstrumentStudio™ソフトウェアを使用することで、シンプルかつ容易なキャリブレーションプロセスを実現し、RFコンポーネントの特性評価に必要な迅速かつ正確な2ポートのSパラメータ測定を可能にします。
NI PXIe-5833 VNAの独自の広帯域パススルー機能を利用することで、NI PXIe-5842 VSTと組み合わせて、再配線やスイッチを使用せずに、単一の挿入で変調およびSパラメータ測定を行うことが可能です。
NI CAL-5501ベクトルキャリブレーションユニットを使用すると、自動キャリブレーションを実行できます。この短い動画では、キャリブレーションの手順と、それをNI PXIe-5633 VNAに適用する方法を段階的に説明しています。
RFテストのベストプラクティスを理解し、正確な結果を得ることは、効率的なテスト手順を実現するために重要です。RF特性評価テストに必要な測定に対応するRF計測器の使用方法を学習します。