PXIベクトルネットワークアナイザとは

PXIベクトルネットワークアナライザ (VNA) は、RFソース、測定、信号分離機能を手動または自動ベクトルキャリブレーションと組み合わせることで、設計、妥当性確認、製造テストシステムにおけるRFデバイスの正確かつ再現性のあるSパラメータ測定を可能にします。

Sパラメータ測定実行

最大26.5 GHzの周波数帯域により、NI VNAはNI InstrumentStudio™ソフトウェアを使用してキャリブレーションプロセスを簡素化し、迅速かつ正確な2ポートのSパラメータ測定とRFコンポーネントの特性評価を行います。

特集コンテンツ

NI PXIベクトルネットワークアナライザ (VNA) モジュールと PXI ベクトル信号トランシーバ (VST) モジュールは、変調された S パラメータ測定を簡素化します。
さまざまなRFベクトル信号トランシーバ (VST) モジュールを搭載したPXIシャーシ。
NI半導体テストシステム (STS) でテスト結果を見るエンジニア。

アプリケーションノート


RF計測基本

RFテストのベストプラクティスを理解し、正確な結果を得ることは、効率的なテスト手順を実現するために重要です。RF特性評価テストに必要な測定に対応するRF計測器の使用方法を学習します。

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