最大26.5 GHzの周波数帯域により、NI VNAはNI InstrumentStudio™ソフトウェアを使用してキャリブレーションプロセスを簡素化し、迅速かつ正確な2ポートのSパラメータ測定とRFコンポーネントの特性評価を行います。
このウェビナーでは、NI PXIe-5633をNI PXIe-5842 VSTと組み合わせて、変調およびSパラメータ測定を行う方法を学びます。
PXI VNAはNI PXIプラットフォームの一部で、シャーシ、コントローラ、モジュールなどのハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントを組み合わせて、複雑な測定および自動化の課題を解決します。
デバイスの複雑さが増し、サイクルが短くなり、市場の要求への対応が進化する中で、モジュール式PXIプラットフォームは、効率的なテストオートメーションを通じてエンジニアが要件を満たすことができるよう支援します。
アプリケーション
RF
RFテストのベストプラクティスを理解し、正確な結果を得ることは、効率的なテスト手順を実現するために重要です。RF特性評価テストに必要な測定に対応するRF計測器の使用方法を学習します。