ラメトリックテストシステム (PTS) の概要

PTS-48チャンネル

NI PTSは、NI PXIプラットフォームをベースにした柔軟で高スループットの半導体パラメトリックテストシステムです。PTSが持つ業界最高水準のチャンネル密度、並列処理、測定速度により、ユーザはより迅速に半導体プロセス認定データが得られます。

ラメトリックテストNI製品選ぶ理由

パラメトリックテスト時間を短縮

NI PTSは最大48個の高性能計測器用チャンネルを提供し、テストスループットを最大限に高め、意味のあるデータ洞察を得るまでの時間を短縮します。この大規模な並列処理とピンごとのアーキテクチャはスイッチマトリクスが不要であり、そのため信号の整合性が保たれ、クラス最高の測定性能が実現しています。

必要に応じてシステムを変更する

当社のモジュール式PXIプラットフォームを使用することで、変化し続ける需要に合わせてシステムを簡単に拡張および適応することができます。  NIはPTSアップグレードおよび拡張キットを提供しており、ニーズの変化に応じてシステムを簡単に拡張できます。さらに、NI PTS計測器のサポートは今後も強化されますので、ユーザは新しいシステムを購入することなく、モジュールを追加することができます。

最適オプション選択ください

48チャンネル

PTS-48

  • 最大構成 

  • 48チャンネルの高精度SMU計測器 

  • 各ピン並列処理を最大限に活用するための最適な選択肢

32チャンネル

PTS-32

  • 中間構成

  • 32チャンネルの高精度SMU計測器

  • 48チャンネルへのアップグレードキットが利用できます

16チャンネル

PTS-16

  • 基本構成

  • 16チャンネルの高精度SMU計測器

  • 32チャンネルへのアップグレードキットが利用できます

  • アップグレードオプションを備えた最適なエントリポイント 

その他のパラメトリックテストオプション

標準のNI PTS構成でニーズが満たされない場合は、当社までお問い合わせください。当社のPXIプラットフォームの広範な計測器ポートフォリオを活用して、お客様のニーズに合致するシステムを設計します。 

信頼高めるラメトリックテストソフトウェア

WLR Test Software

WLR Test Softのフロントパネル

Wafer-Level Reliability (WLR) Test Softwareは、ウェーハレベル信頼性テストにNIのPTSを活用して、TDDB、HCI、BTIなどのJEDEC準拠ストレステストをコーディング不要で、簡単に実行できるようにします。  このソフトウェアは、カスタム開発ユースケース用にLabVIEW、C#、Python APIも提供しています。

製品サポートリソース

ラメトリックテストシステムドキュメント

当社のPTSドキュメントには、システムの概要、システムの立ち上げ、メンテナンス、ベストプラクティスといった、知っておくべきすべての事項について記載されています。

 

PTSドキュメント

PXIe-4135 SMU仕様

当社のPTSは、NIの高精度4135ソースメジャーユニット (SMU) を搭載しています。

 

PXIe-4135 SMUの仕様

PXIe-1095シャー仕様

PTSのバックボーンはNIの高性能PXIe-1095シャーシです。

 

PXIe-1095シャーシの仕様