Wafer-Level Reliability (WLR) Test Softwareは、ウェーハレベル信頼性テストにNIのPTSを活用して、TDDB、HCI、BTIなどのJEDEC準拠ストレステストをコーディング不要で、簡単に実行できるようにします。 このソフトウェアは、カスタム開発ユースケース用にLabVIEW、C#、Python APIも提供しています。
NI PTSは、NI PXIプラットフォームをベースにした柔軟で高スループットの半導体パラメトリックテストシステムです。PTSが持つ業界最高水準のチャンネル密度、並列処理、測定速度により、ユーザはより迅速に半導体プロセス認定データが得られます。
PTS-48
最大構成
48チャンネルの高精度SMU計測器
各ピン並列処理を最大限に活用するための最適な選択肢
PTS-32
中間構成
32チャンネルの高精度SMU計測器
48チャンネルへのアップグレードキットが利用できます
PTS-16
基本構成
16チャンネルの高精度SMU計測器
32チャンネルへのアップグレードキットが利用できます
アップグレードオプションを備えた最適なエントリポイント
その他のパラメトリックテストオプション
標準のNI PTS構成でニーズが満たされない場合は、当社までお問い合わせください。当社のPXIプラットフォームの広範な計測器ポートフォリオを活用して、お客様のニーズに合致するシステムを設計します。
Wafer-Level Reliability (WLR) Test Softwareは、ウェーハレベル信頼性テストにNIのPTSを活用して、TDDB、HCI、BTIなどのJEDEC準拠ストレステストをコーディング不要で、簡単に実行できるようにします。 このソフトウェアは、カスタム開発ユースケース用にLabVIEW、C#、Python APIも提供しています。