デジタルプロトコル全体で半導体テストを合理化
包括的なNI Protocol Suiteを使用して、I2C、SPI、複数のMIPIプロトコルなどの半導体インタフェースを容易に管理し、テストできます。すべてを直感的で一元化されたプラットフォームにより、正確なデバイス制御と迅速なテストプロセスを確保し、信頼性の高い結果を得て市場投入までの時間を短縮する方法については、パンフレットをダウンロードしてお読みください。
このパンフレットの内容:
- 半導体デバイス制御アドオンを使用したNI InstrumentStudio™ソフトウェアの視覚化インタフェースで、半導体テストを合理化します。
- I2C、SPI、MIPIバリアントなどのデジタルプロトコルの検証を簡単に実行してデバイス制御を強化する方法を理解します。
- NI LabVIEWやNI TestStandなどのツールが持つ自動化機能を利用して、テストプロセスを簡素化および強化します。
- PXIシステムのハードウェア仕様と、その他のミックスドシグナルICの拡張性について学びます。
- NI Protocol Suiteを実装したユーザの体験談をお読みください。
- 詳細な技術仕様と戦略的な利点を確認して、スイートの有効性と汎用性を評価してください。
Protocol Suiteが複雑なテストをどのように合理化するかを見る
I2C、SPI、MIPIインタフェースの精密な制御およびテストに必須のツールについては、当社の総合パンフレットを参照ください。
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