NI、半導体テストシステム(STS)ソフトウェア強化によりテストプログラム開発加速し、操作効率化

STSソフトウェア強化半導体製造テスト効率し、コスト削減。

米国テキサス州オースティン – 2019年9月12日 –自動​テスト/​自動​計測​システム​の​開発​と​パフォーマンス​を​加速​する​ソフトウェア​定義​プラットフォーム​の​プロバイダ​で​ある​NI(Nasdaq:NATI)​は​本日、STSソフトウェアの新たな機能強化を発表しました。今回の強化により、NIの半導体テストシステムのプログラミングおよびデバッグ、テスト実行速度、並列テストの効率性、そして全体的な装置の効率性が大幅に向上します。

 

市場投入までの時間短縮が求められる現在、半導体製造テストのエンジニアは、新たな製造向けテストプログラムの開発、デバッグ、実装のプロセスの加速を試みています。STS Software 2019では、テスタにアクセスできないユーザがオフラインでのテストプログラムの開発を促進できます。さらに強化された点としては、複製した計測器のプログラミングを簡単にするドライバや、より簡素化されたデジタルスキャンサポートなどが挙げられます。また、デバッグ機能も向上しており、関連するテスト対象デバイス(DUT)のサイトとピンを選択するだけで、マルチサイトのアプリケーションでインタラクティブな計測と自動テストのデバッグを迅速に行えます。

 

同じく市場投入時期の要件は、半導体のオペレーション/製造グループに対して、パッケージングとテスト装置を継続的に最適化し、収益を改善しなければならないというプレッシャーを与えています。STS Software 2019は、テスト実行時間を短縮すべく最適化された計測器ドライバと、並列テストの効率向上を可能にするスレッド管理の強化によって、テストスループットの向上を実現します。さらに、製造グループがロット間でテスタ構成を切り替えるため、ソフトウェアの切り替え時間が短くなるというメリットもあり、利用率の向上と、全体的な装置の効率性を改善するのにも役立ちます。

 

NIの半導体​ビジネス​担当​シニア​バ​イス​プレジデント​兼​ゼネラル​マネージャ、​Ritu Favreは次のように述べています。「半導体企業は常に、市場投入までの時間を短縮し、テストのコストを削減するというプレッシャーにさらされています。ナショナルインスツルメンツは、NIの半導体テストシステムにおける並列処理、スピード、および効率を大幅に改善しながら、半導体テストシステムの機能を拡大してきました。STS Software 2019の新たな強化により、これまでよりもさらに短期間、低コストで製品を市場に投入できるようになり、お客様には大きな価値がもたらされます。」

 

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NIについて

NI(ni.com)​は、​現在​だけ​で​なく​将来​を​も​見​据​え​た​エンジニアリング​の​課題​解決​を​サポート​する、​高性能​な​自動​テスト/​計測​システム​を​開発​し​てい​ます。​NI​の​ソフトウェア​定義​の​プラットフォーム​は、​モジュール​式​ハードウェア​と​拡大​を​続ける​エコ​システム​から​構成​さ​れ​て​おり、​この​オープン​な​プラットフォーム​を​採用​する​こと​により、​優​れ​た​アイデア​を​具現​化​でき​ます。

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