Accélérez le délai de mise sur le marché grâce à une fiabilité au niveau du wafer hautement parallèle
La géométrie des périphériques à semi-conducteurs se réduit et devient plus complexe, tandis que les tendances technologiques majeures, telles que les véhicules autonomes, exercent une pression supplémentaire sur la chaîne d’approvisionnement des semi-conducteurs pour fournir des garanties plus élevées de qualité des produits. Afin de répondre à ces demandes exigeantes et de continuer à proposer des nœuds technologiques stables avant la concurrence, les ingénieurs chargés du traitement de wafer de semi-conducteurs ont besoin de données de mesure plus fiables, et ce, plus rapidement que jamais.
Une solution pour les tests de fiabilité au niveau du wafer (WLR) doit répondre à ces exigences clés :
- Prise en charge du développement de nœuds de technologie de wafer, de l’intégration de processus et de la surveillance de processus
- Générer rapidement des quantités suffisantes de données de mesure de la fiabilité pour créer des modèles statistiques précis et prendre des décisions basées sur les données
- Respecter les normes JEDEC pour les mécanismes de défaillance courants (TDDB, HCI et BTI/NBTI, Vramp, Jramp, etc.)
- Réduire la durée totale des tests WLR et accélérer la vitesse des données
- Maximisez votre potentiel en termes de dépenses en capital et de surface de production
Solution de fiabilité au niveau du wafer à semi-conducteurs
- Solution WLR hautement parallèle optimisée pour la densité des voies et la vitesse de mesure
- Jusqu’à 48 canaux SMU de classe PXIe-4135 fA dans un seul système de test paramétrique
- SMU modulaires et indépendantes avec une véritable architecture SMU par broche
- Logiciel d’application spécialisé, conforme aux normes JEDEC, comprenant un séquenceur de test standard, la cartographie des périphériques et des wafers, une interface opérateur personnalisable, l’automatisation des sondes, etc.
Avantages de la solution
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Des cycles de test WLR plus courts (de plusieurs mois à quelques jours) avec un parallélisme et une vitesse de mesure à la pointe de l’industrie
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Nombre de canaux configurable et évolutif dans une architecture SMU par broche très flexible
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Effectuez des tests de fiabilité JEDEC rapidement et facilement avec nos WLR Test Soft Front Panel and API
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Compléments facultatifs pour la gestion de systèmes à distance et l’analyse des données
WLR Test Software : Logiciel d’application puissant et API
La fiabilité en toute simplicité
Découvrez comment WLR Test Software de NI simplifie les tests de fiabilité JEDEC grâce à une interface opérateur personnalisable, un séquenceur de test standard, ainsi que des fonctionnalités de parallélisme et de multithreading abstraites.
« La réduction du temps de test grâce à cette méthode SMU par broche est spectaculaire et serait impossible avec des grandes SMU traditionnelles. Notre méthode a éliminé le temps de commutation et de mesure en série, réduisant ainsi le temps total des tests à celui du test d’un unique point de test. »
-Bart De Wachter, chercheur du groupe Technologies et systèmes de semi-conducteurs, imec
CONSTRUISEZ VOTRE SOLUTION AVEC L’ÉCOSYSTÈME NI
NI propose plusieurs options d’intégration de solutions adaptées aux besoins spécifiques de votre application. Vous pouvez utiliser vos propres équipes d’intégration internes pour un contrôle complet du système ou tirer parti de l’expertise de NI et de notre réseau mondial de partenaires NI pour obtenir un système clé en main.
The NI Partner Network is a global community of domain, application, and overall test development experts working closely with NI to meet the needs of the engineering community. NI Partners are trusted solution providers, systems integrators, consultants, product developers, and services and sales channel experts skilled across a wide range of industries and application areas.
NI accompagne les clients tout au long de la vie d’une application, proposant des services de formation, de support technique, de conseil et d’intégration ainsi que des programmes de maintenance. Les équipes peuvent découvrir de nouvelles compétences en se joignant à des groupes d’utilisateurs de différentes régions et spécifiques à NI, et acquérir une maîtrise grâce à une formation en ligne et en présentiel.
Brochure de la solution de fiabilité au niveau du wafer à semi-conducteurs
Découvrez la solution de fiabilité au niveau du wafer à semi-conducteurs de NI.
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