Test paramétrique au niveau du wafer
Les ingénieurs de test de wafer ont besoin de réduire les temps de test sans pour autant sacrifier la qualité et la précision des mesures.
Découvrez comment réduire le coût de vos tests grâce à une approche de test des semi-conducteurs basée sur une plate-forme.
Utilisez la plate-forme PXI pour réduire le temps des tests, diminuer les coûts de 75 % et effectuer des expériences de processus auparavant impossibles.
Avec des processeurs commerciaux de dernière génération et une grande gamme de SMU au format PXI, la plate-forme PXI constitue une base solide pour les systèmes de test de fiabilité au niveau du wafer reposant sur une architecture SMU par broche.
Ces SMU allient la puissance et les performances de mesure des SMU traditionnelles à la technologie NI, ce qui leur permet d’être moins encombrantes, plus rapides et plus flexibles.
Ressources pour les applications
Kit de ressources pour la plate-forme PXI
Découvrez les fondamentaux de la plate-forme PXI pour la caractérisation des semi-conducteurs, à l’aide de notes architecturales, études de cas pertinentes et d’indicateurs de performances.