Avec une couverture de fréquence allant jusqu’à 26,5 GHz, les VNA NI disposent d’un processus d’étalonnage simplifié sur le logiciel NI InstrumentStudio™ permettant d’obtenir des mesures rapides et précises du paramètre S de 2 ports et la caractérisation des composants RF.
Dans ce webinaire, vous découvrirez comment le système NI PXIe-5633 peut être utilisé pour effectuer des mesures modulées et de paramètre S lorsqu’il est associé au VST NI PXIe-5842.
L’analyseur de réseau vectoriel (VNA) PXI fait partie de la plate-forme NI PXI, qui combine des composants matériels et logiciels, notamment des châssis, des contrôleurs et des modules, pour vous aider à résoudre des défis complexes de mesure et d’automatisation.
Face à l’évolution de la complexité des périphériques, aux cycles plus courts et aux demandes du marché, la plate-forme PXI modulaire aide les ingénieurs à dépasser les exigences grâce à une automatisation efficace des tests.
Notes d’application
Principes fondamentaux des mesures RF
Comprendre les meilleures pratiques des tests RF et obtenir des résultats précis est essentiel pour exécuter des procédures de test efficaces. Apprenez à utiliser des instruments RF pour les mesures requises dans les tests de caractérisation RF.
Trouvez les fichiers de téléchargement et les drivers d’instruments supportés pour chaque produit.
Parcourez un vaste éventail de ressources d’aide, notamment des exemples et des informations de dépannage.