Avec une couverture de fréquence allant jusqu’à 26,5 GHz, les VNA NI disposent d’un processus d’étalonnage simplifié sur le logiciel NI InstrumentStudio™ permettant d’obtenir des mesures rapides et précises du paramètre S de 2 ports et la caractérisation des composants RF.
Dans ce webinaire, vous découvrirez comment le système NI PXIe-5633 peut être utilisé pour effectuer des mesures modulées et de paramètre S lorsqu’il est associé au VST NI PXIe-5842.
Réduisez l’encombrement du banc de test, accélérez les délais de mise sur le marché et préservez l’exactitude des instruments de laboratoire traditionnels en utilisant la plate-forme PXI pour effectuer des tests frontaux RF.
Face à l’évolution de la complexité des périphériques, aux cycles plus courts et aux demandes du marché, la plate-forme PXI modulaire aide les ingénieurs à dépasser les exigences grâce à une automatisation efficace des tests.
Ressources pour les applications
Principes fondamentaux du montage d’un système de test
La définition d’une stratégie de test et la planification des investissements dans les systèmes sont essentielles pour réduire les coûts, optimiser le cycle de vie des tests et des investissements et maximiser l’efficacité. Découvrez les stratégies de test, les meilleures pratiques et les compromis liés à la conception de vos systèmes de test.
Trouvez les fichiers de téléchargement et les drivers d’instruments supportés pour chaque produit.
Parcourez un vaste éventail de ressources d’aide, notamment des exemples et des informations de dépannage.