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Acelere el tiempo de comercialización con fiabilidad a nivel de oblea altamente paralela
Las geometrías de los dispositivos semiconductores se están reduciendo y volviendo más complejas, mientras que las principales tendencias tecnológicas, como los vehículos autónomos, ejercen una presión adicional en la cadena de suministro de semiconductores para brindar mayores garantías de calidad del producto. Para mantenerse al día con estas desafiantes demandas y aún así proporcionar nodos de tecnología estables antes que la competencia, los ingenieros de procesos de obleas de semiconductores necesitan más datos de medidas de fiabilidad y los necesitan más rápido que nunca.
Una solución de fiabilidad a nivel de oblea (WLR) debe cubrir estos requisitos clave:
- Apoyar el desarrollo de nodos de tecnología de oblea, la integración de procesos y el monitoreo de procesos.
- Generar rápidamente cantidades suficientes de datos de medidas de fiabilidad para construir modelos estadísticos precisos y permitir decisiones basadas en datos.
- Cumplir con los estándares JEDEC para mecanismos de falla comunes (TDDB, HCI y BTI/NBTI, Vramp, Jramp, etc.)
- Disminuir el tiempo total de pruebas de WLR y acelerar la velocidad de los datos
- Maximizar la eficiencia de los gastos de capital y el espacio de la planta de manufactura
Solución de fiabilidad a nivel de oblea de semiconductores
- Solución WLR altamente paralela y optimizada para densidad de canales y velocidad de medidas
- Hasta 48 canales PXIe-4135 SMU de clase fA en un solo sistema de pruebas paramétricas
- SMUs modulares e independientes con una verdadera arquitectura SMU por pin
- Software de aplicación especializado y compatible con JEDEC que incluye un secuenciador de pruebas estándar en la industria, mapeo de dispositivos y obleas, interfaz de operador personalizable, automatización del probador y más
Ventajas de la solución
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Ciclos de pruebas de WLR más cortos, de meses a días, con un paralelismo y una velocidad de medidas líderes en la industria.
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Cantidad de canales configurable y actualizable en una arquitectura SMU por pin altamente flexible
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Realice pruebas de fiabilidad JEDEC de manera rápida y sencilla con nuestro panel frontal de pruebas de WLR y nuestras API
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Complementos opcionales para análisis de datos y administración de sistemas remotos
WLR Test Software Potente software de aplicación y APIs
Información sobre fiabilidad simplificada
Aprenda cómo el WLR Test Software de NI permite que sea más fácil realizar pruebas de fiabilidad JEDEC con una interfaz de operador personalizable, un secuenciador de pruebas estándar en la industria y funcionalidad de paralelismo abstracto y multithreading.
"La reducción del tiempo de prueba con este método de SMU por pin es espectacular y no sería posible con las grandes SMUs tradicionales. Nuestro método eliminó el tiempo de conmutación y medidas serializadas, reduciendo el tiempo total de prueba a diferencia de probar un solo punto de prueba".
-Bart De Wachter, investigador del grupo de sistemas y tecnología de semiconductores, imec
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NI ofrece una variedad de opciones de integración de soluciones personalizadas para los requisitos específicos de su aplicación. Puede utilizar sus propios equipos internos de integración para el control total del sistema o aprovechar la experiencia de NI y nuestra red NI Partner Network a nivel mundial para obtener una solución lista para usar.
NI Partner Network
The NI Partner Network is a global community of domain, application, and overall test development experts working closely with NI to meet the needs of the engineering community. NI Partners are trusted solution providers, systems integrators, consultants, product developers, and services and sales channel experts skilled across a wide range of industries and application areas.
Servicios y soporte
NI colabora con clientes durante el ciclo de vida de una aplicación, proporcionando capacitación, soporte técnico, servicios de consultoría e integración y programas de mantenimiento. Los equipos pueden descubrir nuevas habilidades al participar en grupos de usuarios geográficos y específicos de NI y desarrollar habilidades con formación y capacitación en línea y en persona.
Folleto de la solución de fiabilidad a nivel de oblea de semiconductores
Aprenda sobre la solución de NI de fiabilidad a nivel de oblea de semiconductores.
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