Pruebas paramétricas a nivel de oblea

Los ingenieros de pruebas a nivel de oblea necesitan reducir el tiempos de las pruebas sin sacrificar la calidad y exactitud de las medidas.

NI proporciona soluciones flexibles de pruebas paramétricas de oblea que pueden escalar para cumplir con sus necesidades.

Un enfoque más inteligente para pruebas paramétricas a nivel de oblea

Folleto de semiconductor de NI

Aprenda más sobre cómo puede reducir sus costos de pruebas con un enfoque basado en plataforma para pruebas de semiconductores.

Contenido relevante

imec mejora su flexibilidad de flujo de proceso de semiconductores y reduce el tiempo de prueba a nivel de oblea con la plataforma PXI y LabVIEW.
Al utilizar un enfoque modular para sistemas de pruebas paramétricas, puede reducir drásticamente el tamaño de los sistemas WLR sin sacrificar la calidad de las medidas.
El tamaño compacto y la modularidad de las NI SMUs hacen que estos instrumentos sean críticos para los sistemas de prueba IV paralelo.

Productos y soluciones

RECURSO PARA APLICACIONES


Kit de recursos de la plataforma PXI

Aprenda los fundamentos de la plataforma PXI para caracterización de semiconductores con notas de diseño, casos de estudio relevantes y métricas de rendimiento.