Probar y calificar dispositivos semiconductores de potencia
Los ingenieros en los laboratorios de calificación recopilan una gran cantidad de datos en DUTs de semiconductores de potencia recientemente diseñados para detectar fallas y calificar sus dispositivos. Una vez que se verifican los dispositivos, los ingenieros deben mantener la alta calidad del DUT durante la producción, centrándose más en el rendimiento que en los detalles. Una solución para pruebas y calificación de semiconductores debe cumplir con los siguientes requisitos:
Requisitos de la aplicación:
- Funciones y características de prueba, como funcionalidad integrada de lectura completamente automática, caracterización, templado de un solo DUT y control de temperatura, esenciales para obtener información valiosa durante la calificación
- Escalabilidad de los canales del DUT y la capacidad de probar grandes volúmenes de DUT en espacios pequeños, crucial para recalificar los DUT en la producción en curso
- Alta precisión y fiabilidad en los equipos de pruebas para garantizar una recopilación de datos consistente y precisa durante las fases de calificación y producción
Sistemas de pruebas H(3)TRB y HTGB
Sistemas de pruebas de alto rendimiento:
- Desconecte el DUT en caso de falla con lectura/caracterizaciones integradas y completamente automáticas (Rth, Vgs (th), Vds, Vf, Vbreakdown, etc.) y funciones de actualización simplemente cambiando las tarjetas
- Cambie los rangos de corriente con sujeción de corriente a ~130% del rango de corriente y deshabilite el DUT bloqueado en ~20 ms
- Temple un solo DUT con control de temperatura ambiente en Tj y precisión de regulación de hasta +/- 0.25 °C
Sistemas de pruebas de alto volumen:
- Soporte para hasta 960 DUTs en un rack escalable de 19", con pruebas independientes para múltiplos de 80 DUTs y parámetros de entorno independientes para múltiplos de 240 DUTs
- Interfaz con todos los hornos y cámaras climáticas comunes
- Mida la corriente en la fuente y la compuerta para HTGB, manejando hasta 2000 V, 4 mA/DUT y voltaje de compuerta de +/- 40 V
Ventajas de la solución
Los sistemas de pruebas de alto rendimiento y alto volumen ofrecen capacidades de prueba escalables y flexibles con una amplia variedad de funciones de prueba, opciones de alto voltaje y corriente, y la capacidad de administrar de forma independiente múltiples DUTs, garantizando resultados precisos y confiables.
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Ofrece opciones para sistemas de alto rendimiento y alto volumen.
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Se diferencia en términos de la cantidad de canales de DUT y capacidades técnicas, dependiendo de si desea enfocarse en la caracterización o el rendimiento.
Vea qué considerar al realizar pruebas HTBG y H3TRB
H3TRB para probar barreras de aislamiento
Gabriel Lieser, jefe de investigación de semiconductores de potencia en NI, proporciona una explicación detallada de las pruebas HTGB y H3TRB. Cubre consideraciones importantes para realizar estas pruebas, particularmente para componentes de banda prohibida amplia y destaca su importancia para varias aplicaciones en el producto final.
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La red NI Partner Network es una comunidad global de expertos en la materia, aplicaciones y desarrollo de pruebas en general que trabajan en estrecha colaboración con NI para satisfacer las necesidades de la comunidad de ingenieros. Los socios de NI son proveedores confiables de soluciones, integradores de sistemas, consultores, desarrolladores de productos y expertos en servicios y canales de ventas capacitados en una amplia gama de industrias y áreas de aplicación.
NI colabora con clientes durante el ciclo de vida de una aplicación, proporcionando capacitación, soporte técnico, servicios de consultoría e integración y programas de mantenimiento. Los equipos de trabajo pueden descubrir nuevas habilidades, participando en grupos de usuarios regionales y específicos de NI y desarrollar habilidades con cursos en línea y presenciales.
Folleto de sistemas de pruebas H(3)TRB y HTGB
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