Usar el Digital Pattern Editor
El Digital Pattern Editor es una herramienta interactiva para importar, editar o crear patrones de prueba. El software integra hojas de edición para mapas de pin de dispositivo, especificaciones y patrones para desarrollar o editar vectores y patrones de prueba digital importados.
Tools to Debug Digital Test Patterns
The Digital Pattern Editor includes tools like Schmoo plots to provide a deeper understanding of device-under-test (DUT) performance across variation. The editor also offers debugging tools such as overlaying pattern failures on a pattern or using digital scope for an analog view of the pin data.
Activación programática de patrones
El NI-Digital Pattern Driver en herramientas de desarrollo de LabVIEW, C o .NET ofrece la habilidad de desarrollar código de pruebas para interactuar con instrumentos de patrones digitales PXI.
Módulo de semiconductores TestStand
El Módulo de TestStand para Semiconductores funciona junto con el Digital Pattern Editor y el Digital Pattern Editor con soporte para el mapa de pin y programación multisitio centrada en DUT de sistemas de pruebas de semiconductores (STS).
Contenido relevante
Introducción a la arquitectura PXI
Obtenga una comprensión más profunda de la arquitectura PXI y sus aplicaciones del mundo real.
Consideraciones Importantes al migrar al instrumento de patrones digitales
Aprenda más sobre migrar los sistemas PXI existentes para aprovechar las características que el instrumento de patrones digitales PXI ofrece para digital de clase ATE.
Reduzca el costo de pruebas con STS
Descubra cómo el STS brinda la apertura y la flexibilidad de la plataforma PXI al entorno de producción de semiconductores.
Recurso para aplicaciones
Fundamentos para desarrollar un sistema de pruebas
Definir una estrategia de pruebas y planificar las inversiones en sistemas es fundamental para reducir costos, optimizar su ciclo de vida de inversión en pruebas y maximizar la eficiencia. Aprenda estrategias de pruebas, prácticas recomendadas y soluciones de diseño para sus sistemas de pruebas.
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