Basis-Qualifizierung mit IOL und Power Cycling
IOL- und Power Cycling-Testsysteme helfen Ihnen, unter beschleunigten Bedingungen spezifische Belastungsbedingungen in Ihrem Leistungshalbleiter zu erzeugen. Sie können auf effiziente Weise bei hohem Durchsatz, nahtloser Überwachung und niedrigen Kosten helfen. Neben dem Testen von siliziumbasierten Leistungshalbleitern sind die Systeme auch für SiC- und GaN-Leistungshalbleiter ausgestattet.
Was Sie in der Broschüre erfahren:
- Methoden zur Verbesserung der Messqualität und zum Erreichen eines hohen Durchsatzes bei Tests
- Strategien zur Senkung der Testkosten bei gleichbleibender Qualität
- Detaillierte Einblicke in die nahtlose Überwachung und präzise Parameterbestimmung für jeden Prüfling
- Einsatzbereiche für Breitbandlückentechnologien, einschließlich SiC- und GaN-Leistungshalbleitern
- Vorteile eines vollautomatischen Testprozesses mit umfassender Charakterisierung
Funktionsweise führender IOL- und Power Cycling-Testsysteme
Steigern Sie die Testeffizienz, erhöhen Sie den Durchsatz und senken Sie Kosten mithilfe fortschrittlicher IOL- und Power Cycling-Systeme mit nahtloser Überwachung und speziellen Funktionen für SiC- und GaN-Halbleiter.
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Vielen Dank für Ihr Interesse.