Wafer-Level Reliability Test Toolkit
YEA Engineering, LLC
Wafer-Level Reliability Test Toolkit 可提供穩定性評估專用的壓力與量測技巧。
Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit 是一款適用於 LabVIEW 的軟體外掛程式。這款外掛程式能與 PXI 電源量測單元搭配使用，依據裝置規格的極端電壓與溫度上下限來執行半導體裝置的穩定性評估。此外掛程式可協助您使用負偏壓溫度不穩定性與熱載子注入機制，藉此施加壓力並量測裝置的回應，進而監控衰減跡象。您可以在晶圓或封裝層級執行這些測試。WLR Test Toolkit 也能顯示量測與分析資料。
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