首頁 產品選購 NI 服務 教育服務 Customer Education Courses 使用 Outlier Detection 解決方案課程概述

使用 Outlier Detection 解決方案課程概述

因應品質目標，解決晶圓廠製程相關問題。運用備受肯定的 PAT (零件平均測試) 演算法，以統計方式分析多項作業的測試資料，找出合適的異常值單位。學習如何使用預先定義的群體執行測試資料異常值偵測演算法，從而強化 OptimalPlus 技能。了解如何在多重作業期間以單一規則「配方」整合這些演算法。了解在將規則應用於生產時，該如何自動將單位切換成不同的槽。

 

最新課程發佈日期或版本號碼：

 

  • 講師授課的非公開課程：2023

課程詳情：

課程長度

  • 講師授課教室課程：3-4 天 (視主題而定)

課程對象

  • 從事半導體產業的客戶

  • 負責提升產品品質和穩定性的工程師

  • 想接受強化教育訓練的品質工程師、測試與產品工程師、IT 系統管理員，以及主要使用者

先修課程

  • 已經具備全球業務學習課程相關知識

  • 可供學員進行練習的環境

  • 事先收集好想在課堂上討論的使用案例

  • 如果客戶使用 Vertica 環境，必須先請客戶提供相關資訊

會用到的 NI 產品

  • OptimalPlus SW

完成此課程之後，您將能夠：

  • 說明 Outlier Detection 解決方案的價值

  • 區分每種演算法的運作原理

  • 設計不同的虛擬作業規則

  • 應用 Outlier Detection 演算法後分析規則結果

使用 Outlier Detection 解決方案課程大綱：

請與應用/支援團隊聯絡了解相關資訊或索取教育訓練大綱。

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