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PXI‑2510 故障植入單元 (FIU) 主要用於硬體迴路 (HIL) 應用與電子穩定性測試。各個模組皆具備一組饋通 (feedthrough) 通道,可針對故障匯流排開啟或關閉。 此架構可用來對個別通路模擬開啟或中斷連接,以及針腳之間的短路、電池電壓短路,以及接地短路。 使用 LabVIEW Real‑Time Module 控制時,PXI‑2510 適合用來驗證包括引擎控制單元 (ECU) 與全權數位引擎控制 (FADEC) 在內的各項控制系統完整性。