晶圓級可靠性 (WLR) 測試軟體運用 NI PTS 進行晶圓級可靠性測試,更支援輕鬆執行符合 JEDEC 規範的 TDDB、HCI、BTI 等壓力測試,而且完全不必編寫程式碼。 這款軟體還提供 LabVIEW、C# 與 Python API,適用於進行客製化開發。
NI PTS 是採用 NI PXI 平台的半導體參數測試系統,彈性好、產能高。PTS 發揮領先業界的通道密度、平行機制以及量測速度,能協助使用者更快速地了解半導體製程認證資料。
PTS-48
最高配置
48 個精確 SMU 儀器通道
充分發揮針腳架構平行機制的最佳選擇
PTS-32
中間設定
32 個精確 SMU 儀器通道
能將組合升級至 48 個通道
PTS-16
基本配置
16 個精確 SMU 儀器通道
能將組合升級至 32 個通道
提供升級選擇的最佳入門組合
晶圓級可靠性 (WLR) 測試軟體運用 NI PTS 進行晶圓級可靠性測試,更支援輕鬆執行符合 JEDEC 規範的 TDDB、HCI、BTI 等壓力測試,而且完全不必編寫程式碼。 這款軟體還提供 LabVIEW、C# 與 Python API,適用於進行客製化開發。