模組化資料擷取
分散式量測與控制
高效能測試
自動化測試系統開發軟體
專業觀點單元介紹 NI 對測試與技術領域的未來展望。
可申請維修、RMA、安排校準時間,或取得技術支援。可能需具備有效的服務計畫協定。
提供適用於 NI 資料擷取與訊號處理裝置的支援。
提供適用於乙太網路、GPIB、序列、USB 與其他類型儀器的支援。
提供適用於 NI GPIB 控制器與配備 GPIB 連接埠之 NI 嵌入式控制器的支援。
數位儀器可產生並擷取高速數位波形,以執行資料傳輸、與受測裝置通訊、測試數位介面。這類儀器適用於半導體的特性分析與生產作業、介接 LVDS 與 TTL 數位電子產品、高速序列連結的功能測試。
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