Wafer-Level Reliability Test工具包
YEA Engineering, LLC
Wafer-Level Reliability Test工具包提供压力和测量技术以用于可靠性评估。
Wafer-Level Reliability (WLR) Test工具包测试工具包是LabVIEW的一款附加软件。您可以将此附加软件与PXI源测量单元一起使用，以在产品规范中电压和温度的极值条件下执行半导体器件可靠性评估。该附加软件可帮助您使用负偏压温度不稳定性和热载流子注入机制来施加应力并测量设备的响应，以监视性能下降的迹象。您可以在晶圆级或封装级执行这些测试。WLR Test工具包还提供测量和分析数据的可视化结果。
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