提供高度并行的晶圆级可靠性，缩短产品上市时间
半导体芯片在日益小型化的同时，复杂性却随之增加，自动驾驶汽车等主要技术也在不断发展，半导体供应链的厂商面临着前所未有的压力：需要提供比以往更加优质且有保障的产品。为了满足这些颇具挑战性的要求，并在竞争中率先发布稳定的技术节点，半导体晶圆工艺的工程师亟需更快速地获取更多可靠性测量数据。
晶圆级可靠性(WLR)解决方案必须满足以下关键要求：
- 支持晶圆技术节点开发、工艺集成和工艺监测
- 快速生成足够多的可靠性测量数据，从而构建准确的统计模型，根据数据做出有据可依的决策
- 符合常见故障机制（TDDB、HCI和BTI/NBTI、Vramp、Jramp等）的JEDEC标准
- 减少总WLR测试时间，提高数据传输速度
- 最大化资本支出和晶圆厂空间的利用率
半导体晶圆级可靠性解决方案
- 高度并行的WLR解决方案，提供更高的通道密度和测量速度
- 单个参数测试系统中配备多达48个PXIe-4135fA类SMU通道
- 模块化和独立式SMU，具有真正“每引脚SMU”架构
- 符合JEDEC标准的专业应用软件包括行业标准的测试序列生成器、设备和晶圆映射、可自定义的操作界面、探针自动化等
解决方案的优势
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大幅缩短WLR测试周期（从几个月缩短到数天），提供行业领先的并行性和测量速度
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采用高度灵活的“每引脚SMU”架构，通道数可配置且可升级。
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使用我们的WLR测试软前面板和API，快速简单地执行JEDEC可靠性测试
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为远程系统管理和数据分析提供可选的附加软件
WLR Test Software：功能强大的应用软件和API
更为简单的可靠性信息提取
了解NI的WLR测试软件如何通过可自定义的操作界面、行业标准测试序列生成器以及抽象并行性和多线程功能简化JEDEC可靠性测试。
“每引脚SMU”方法非常高效，大幅缩短了测试时间，这是大型传统台式SMU难以企及的。由于这一方法可实现并行测量，不需要按顺序进行测量，节省了中间的切换步骤，因此总测试时间大幅减少，仅为一个测试点的测试时间。”
— Bart De Wachter，imec半导体技术和系统小组研究员
利用NI生态系统，构建解决方案
NI提供了各种集成解决方案供您选择，可满足您的特定应用需求。您可以将系统集成工作完全交给公司内部的集成团队，也可寻求NI以及遍布全球的NI合作伙伴联盟的帮助，获取完整的一站式解决方案。
The NI Partner Network is a global community of domain, application, and overall test development experts working closely with NI to meet the needs of the engineering community. NI Partners are trusted solution providers, systems integrators, consultants, product developers, and services and sales channel experts skilled across a wide range of industries and application areas.
在应用的整个生命周期中，NI将与客户携手同行，随时提供培训、技术支持、咨询和集成服务以及维护计划。团队可以参与到NI不同地区的用户组，进行学习交流从而获取新技能，也可通过在线和面授培训来提高自身的技能水平。