在最终的晶圆测试和分类过程中,每个裸片都会分配到特定的废料箱或产品箱。这个过程直接决定了质量和盈利能力。将合格裸片错误地报废会影响利润,而将有缺陷的裸片错误地交付给客户则会对质量和品牌声誉造成负面影响。每个半导体制造厂都必须在其测试和晶圆分类过程中平衡这两个问题,这就需要采取基于数据的质量决策流程:
确保淘汰不良裸片以及将所有优质裸片投放市场,实现高达2%的整体良率提升
在缺陷逃逸预防、异常值检测、RMA分析等基础上建立强大的质量防线,满足客户的零缺陷目标
更快速分析质量问题的根本原因,以不断改进质量指标和制造结果
提供预构建的规则库,用于监测测试操作并查明可能导致交付不良裸片的设备或测试相关问题
将退回的裸片与生产数据相关联,快速确定故障的根本原因并进行历史分析,以发现制造中的系统性问题
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