模块化数据采集
分布式测量与控制
高性能测试
自动化测试系统开发软件
趋势瞭望呈现NI对测试和技术领域的未来展望。
您可以申请维修、接受服务、安排校准或获得技术支持。但可能需要有效的服务协议。
为NI数据采集和信号调理设备提供支持。
为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
什么是PXI矢量信号分析仪?
PXI矢量信号分析仪(VSA)可执行频谱测量、解调和信号分析,并在指定带宽内以特定频率测量输入信号的幅度和相位。
NI VSA具有非常低的相位噪声和本底噪声、出色的动态范围和高二阶和三阶截点,非常适用于相邻通道泄漏比(ACLR)测量以及杂波和谐波测量等各种应用。
NI VSA具有高达765 MHz的瞬时RF带宽,能够以极高的带宽进行单次数据采集,这些特性非常适用于测试无线标准(如LTE-A Pro)以及数字预失真和雷达脉冲测量等多种应用。
PXI固有的定时和同步功能使得NI VSA能够与其他测试仪器进行亚纳秒级的同步,适用于相位相干雷达测量、包络追踪和测向等应用。
您可以定制板载FPGA,以针对应用需求设计增强功能,这些增强功能也称为FPGA扩展。您可以使用LabVIEW FPGA模块来开发FPGA扩展功能 ,以提高测量速度,进行闭环测试和复杂的算法工程开发。
NI-RFmx提供了高度优化的直观API,非常便于使用,且可让用户进行高级测量配置。结合NI-RFmx,NI VSA可以执行数字和模拟调制信号测量以及包括通道功率、相邻通道功率和谐波在内的RF频谱测量等任务。
对高频信号执行频谱分析时,应用程序会确定使用快速傅立叶变换(FFT)分析仪还是扫描频谱分析仪。
借助NI PXI矢量信号分析仪与NI LabVIEW FPGA模块,Captronic Systems打造了一款自定义、可扩展的解决方案来测试雷达的所有功能。
PXIe-5668微波信号分析仪可以满足各种应用的严苛需求,比如无线通信、射频集成电路(RFIC)特性分析、无线电探测和定位(RADAR)测试以及频谱监测/信号情报等。
应用指南
使用NI PXI VSA进行噪声系数测量
了解噪声和噪声系数测量的基本原理,包括使用NI VSA和LabVIEW计算测量不确定度的Y因子技术和方法。
将RF和基带矢量信号分析仪以及矢量信号发生器与用户可编程的FPGA相结合,实现实时信号处理和控制。
使用LabVIEW开发软件,在图形化编程环境中构建自定义测试、设计和控制系统。
PXI矢量网络分析仪可测量RF设备的幅值、相位和阻抗,并可在RF测试系统中进行可重复的精确测量。
查看完整的产品文档,了解如何开始使用该产品。
查看该产品支持的仪器驱动程序以及下载链接。
浏览丰富的支持资源,其中包含大量的范例和疑难解答信息。
请告诉我们您的需求,我们将助您一臂之力。
谢谢
我们将尽快与您联系!