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分布式测量与控制
高性能测试
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为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
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PXIe‑6570专为半导体特性和生产测试而设计。 它包括基于向量的PXI数字通道板卡,用于配置引脚映射、规格、电平、定时和pattern。 PXIe‑6570还包括调试工具(如Shmoo)、数字示波器和用于查看历史RAM、引脚状态和系统状态的查看器。
PXIe-6570 产品规范
PXIe-6570 用户手册
PXIe-6570 尺寸图
PXIe-6570 产品认证
PXIe-6570 易失性声明
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