晶圆级可靠性(WLR)测试软件利用NI PTS进行晶圆级可靠性测试,无需编码即可轻松执行TDDB、HCI、BTI等符合JEDEC标准的应力测试。 该软件还提供LabVIEW、C#和Python API,可用于自定义开发用例。
NI PTS基于NI PXI平台,是一款兼具灵活性和高吞吐量的半导体参数测试系统。凭借行业领先的通道密度、并行性和测量速度,PTS可帮助用户更快地理解半导体工艺认证数据。
PTS-48
最高配置
48通道精密SMU仪器
最大限度利用每引脚并行性的最佳选择
PTS-32
中等配置
32通道精密SMU仪器
可升级套件至48通道
PTS-16
基本配置
16通道精密SMU仪器
可升级套件至32通道
提供升级选项的最佳入门仪器
晶圆级可靠性(WLR)测试软件利用NI PTS进行晶圆级可靠性测试,无需编码即可轻松执行TDDB、HCI、BTI等符合JEDEC标准的应力测试。 该软件还提供LabVIEW、C#和Python API,可用于自定义开发用例。