Wafer-Level Reliability Test Toolkit

YEA Engineering, LLC

Wafer-Level Reliability Test Toolkit은 신뢰성 평가를 위한 부하 및 측정 기술을 제공합니다.

WLR (Wafer-Level Reliability) Test Toolkit은 LabVIEW용 소프트웨어 애드온입니다. 이 애드온을 PXI 소스 측정 유닛과 함께 사용하면 디바이스 사양의 극값의 전압 및 온도로 반도체 디바이스 신뢰성 평가를 수행할 수 있습니다. 이 애드온은 네거티브 바이어스 온도 불안정성 및 핫 캐리어 주입 메커니즘을 사용하여 장치에 부하를 주고 응답을 측정하여 성능 저하 징후를 모니터링할 수 있습니다. 이러한 테스트는 웨이퍼 또는 패키지 수준에서 수행할 수 있습니다. WLR Test Toolkit은 측정 및 분석 데이터에 대한 시각화도 제공합니다.

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참고: 이 제품을 설치하기 전에 JKI VIPM(VI 패키지 관리자)을 설치하십시오. VIPM은 LabVIEW 애드온의 검색, 생성 및 설치를 지원합니다.

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