반도체 검증 및 테스트 모범 사례 다운로드
테스트 복잡성을 해결하고 일정을 단축하는 방향으로 나아가고 있습니까? 아니면 새로운 시장에서 경쟁 우위를 확보하고 있습니까?
어떤 어려움이 있든 접근 방식을 다시 생각해 보면 팀이 오늘날의 기술적 과제에 잘 대처하고 데이터의 잠재력을 활용하여 보다 스마트한 제품 수명 주기 관리를 실현할 수 있습니다.
NI에서 제공하는 2파트 번들로 테스트 요구 사항을 충족하십시오.
효율성을 견인하는 선도 기업의 전략을 살펴보고 다음과 같은 성과를 이룬 방법에 대해 알아보십시오.
- 하드웨어 비용 40% 절감
- 하드웨어 개발 시간 최대 75% 단축
- 사이클 교정 시간 50% 감소
- (더 짧은 기간에) 테스트 커버리지 2배 확장
- 효율성을 저해하는 데이터 사일로 연결
- 벤치/프로젝트 확장성 향상
반도체 선도 기업의 테스트 전략 얻기
이 2파트 테스트 전략 번들에서 반도체 선도 기업이 변화에 발맞춰 경쟁력을 유지하는 방법을 살펴보십시오.
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