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웨이퍼 레벨 신뢰성 측정하기 교육과정은 웨이퍼 레벨 신뢰성(WLR) 테스트 뿐만 아니라 PXI 소스 측정 유닛(SMU)과 테스트 대상 디바이스(DUT)와 같은 하드웨어를 WLR 테스트 소프트웨어로 통합하는 방법까지 소개합니다. 이 교육과정은 WLR 테스트 소프트웨어를 사용하여 2-터미널 및 4-터미널 부하 테스트와 파라미터 스윕을 수행하여 반도체 웨이퍼의 신뢰성을 측정하는 방법을 이해할 수 있게 돕습니다. WLR 테스트를 수행하기 전 SMU를 보정하는 방법과 SMU 채널을 DUT에 맵핑하는 방법에 익숙해질 것입니다. 이에 더해 이 교육과정은 시간 의존적 게이트 산화물 분해(TDDB)와 바이어스 온도 불안정성/핫 캐리어 인젝션(BTI/HCI) 테스트 수행 방법도 교육합니다. 또한 시스템 설정, 시스템 구동과 테스트 실행 간 생기는 일반적 문제를 해결하는 방법도 배울 것입니다. 웨이퍼 레벨 신뢰성 측정하기 교육과정은 반도체 웨이퍼의 신뢰성을 테스트하기 위해 턴키 소프트웨어 솔루션이 필요한 테스트 엔지니어에게 권장됩니다.
주요 특징: