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PXIe-6570
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2 슬롯, 100 MVectors/s, PXI 디지털 패턴 계측기
PXIe‑6570은 반도체 특성화 및 양산 테스트에 사용하도록 설계되었습니다. 이 계측기에는 핀 맵, 스펙, 레벨, 타이밍, 패턴을 설정하기 위한 Digital Pattern Editor가 포함되어 있습니다. PXIe‑6570은 Shmoo, 디지털 스코프와 같은 디버깅 툴은 물론 History RAM, 핀 상태, 시스템 상태를 확인하기 위한 뷰어도 제공합니다.
부품 번호: 785283-01 |
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