Wafer-Level Reliability Test Toolkit
YEA Engineering, LLC
Wafer-Level Reliability Test Toolkitは、信頼性推定のためのストレスおよび測定技術を提供します。
Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkitは、LabVIEW用のソフトウェアアドオンです。このアドオンをPXIソースメジャーユニットとともに使用して、デバイス仕様の異常電圧/温度で半導体デバイスの信頼性推定を実行できます。このアドオンは、負のバイアス温度の不安定性とホットキャリア注入メカニズムを使用して、デバイスの応答にストレスを与えて測定し、劣化の兆候を監視するのに役立ちます。これらのテストは、ウェーハまたはパッケージレベルで実行できます。WLR Test Toolkitは、測定および分析データの視覚化も提供します。
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