InstrumentStudioソフトウェア用半導体デバイス制御アドオンを使用すると、対話式ソフトフロントパネルで計測器による測定作業と並行してデバイスレジスタの制御作業を統合することができます。また、その設定をエクスポートして自動検証作業を簡素化できます。
IPブロック、レジスタグループ、およびアドレスによって体系化されたデバイスレジスタマップを直接インポートできます。デバイス設定やビットフィールド、その他のレジスタ情報に直接マッピングすることも可能です。
対話型のユーザインタフェースで、パターンベースのNI計測器またはUSBデバイス制御インタフェースを構成し、レジスタの読み取り/書き込みを実行できます。その際、静的なデジタルI/O制御とともにI2C、SPI、または他のデジタルプロトコルが使用可能です。
InstrumentStudioを使用すれば、統合されたソフトフロントパネルで、デバイスレジスタの制御および計測器による測定作業を一体化できます。これにより、対話式によるDUTの起動やデバッグも簡単になります。
デバイス制御設定をエクスポートしてLabVIEW、Python、.NET、またはTestStandで利用することで、自動検証への移行が容易になります。
自動検証プログラムの実行中、動的にクエリおよび更新されたデバイスレジスタや計測器設定を、InstrumentStudioで同時に確認または制御することができます。