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The Device Testing with Digital Pattern Instruments Course helps you use PXI Digital Pattern Instruments and the Digital Pattern Editor to perform device tests, with a focus on device-under-test (DUT) communication, digital interface testing, and continuity and leakage testing. This course guides you through the complete test workflow, from calibration and debugging to extending tests into a test executive, as well as how to import a pattern into a test executive. You will learn how to create and edit all elements required to burst a digital pattern to your DUT, including pin maps, level sheets, timing sheets, and pattern files, Additionally, the course covers synchronization of digital pattern instrument with other instruments in your systems. At the end of this course, you will understand how to test DUT modes of operation with SPI commands and how to validate DUT communication, timing, and pin connections. The Device Testing with Digital Pattern Instruments Course is recommended for test engineers performing semiconductor device characterization and production tests.
主な特長:
NIでは、世界中のお客様のニーズにお応えするために、さまざまな言語でトレーニングコースを提供しています。授業形式やバーチャルコース形式のトレーニングを受講する場合は、「バーチャルおよび授業形式のトレーニングコースの予定」をご覧になり、講師が使用する言語と、スライドやマニュアルなどのコース教材で使用される言語を確認してください。オンデマンド形式のトレーニングを受講する場合は、弊社のラーニングライブラリにアクセスして、各コースで提供されている言語を確認してください。