PXIe-6570

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2スロット、100 Mベクトル/s PXIデジタルパターン計測器

NI PXIe‑6570は、半導体の特性評価と製造テストに最適です。 NI PXIe‑6570は、ピンマップや仕様、レベル、タイミング、パターンを構成できるDigital Pattern Editorとともに使用します。 また、Digital Pattern Editorには、Shmooプロットやデジタルスコープ、履歴RAM、ピン状態、システムステータスのビューアといったデバッグツールも備わっています。

製品番号: 785283-01 |

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